Argon Cluster Quelle mit integriertem Focus Ion Beam System für die Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie

具有集成聚焦离子束系统的氩簇源，用于飞行时间二次离子质谱分析

• 批准号: 249230287
• 金额: --
• 依托单位: Justus-Liebig-Universität Gießen
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2013
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2012-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/249230287?language=en
• 关键词: Argon; Cluster; Quelle; mit; integriertem

Die Untersuchung von biologischen und organischen Proben ist in der Sekundärionenmassenspektrometrie problematisch, da mit konventionellen Analyse- und Sputterquellen die vorhandenen Moleküle zu stark fragmentiert, bzw. beim Tiefenprofilieren die Probenbestandteile bereits nach kurzer Zeit „vermischt" werden. Bei der Verwendung einer Argon-Clusterquelle sind diese Effekte deutlich unterdrückt. Auch vergleichsweise schwere Vorläufermoleküle bleiben beim Ionenbeschuss unfragmentiert und können als Sekundärion delektiert werden. Da in unserer Arbeitsgruppe vermehrt organische und biologische Proben untersucht werden, die auch in den mitnutzenden Gruppen studiert werden, soll das vorhandene Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometer mit einer Argon-Clusterquelle sowie einer Focused Ion Beam-Quelle (FIB) nachgerüstet werden. Letztere ermöglicht die kontaminationsfreie Herstellung von Probenquerschnitten, die anschließend massenspektrometrisch analysiert werden.

世界上的可能性正处于诸如Sekundé会合之类的问题的时期，但是世界的可能性仍处于地球上的时代，并且可能不在空中，但可能的可能性不在空中。由离子束 - Quelle（fib）NachgerüstetWerden聚焦的新Argon-Clusterquelle。 letztereermöglicht死亡kontaminationsfreie herstellung von probenquerschnitten，dieanschließendmassenspektrometrometrometrometrometrometrometrimetrometierth analysiert werden。

项目成果

XPS and SIMS Analysis of Solid Electrolyte Interphases on Lithium Formed by Ether-Based Electrolytes

• DOI: 10.1149/2.0851714jes
• 发表时间: 2017-01-01
• 期刊: JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
• 影响因子: 3.9
• 作者: Fiedler, Carsten;Luerssen, Bjoern;Janek, Juergen
• 通讯作者: Janek, Juergen

Improving SIMS imaging of FIB bevel cuts with an elaborate sample holder

使用精心设计的样品架改进 FIB 斜切的 SIMS 成像

• DOI: 10.1116/1.4989554
• 发表时间: 2018
• 期刊: Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
• 作者: C. Schneider;H. Weigand;M. Rohnke
• 通讯作者: M. Rohnke