Argon Cluster Quelle mit integriertem Focus Ion Beam System für die Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie

具有集成聚焦离子束系统的氩簇源，用于飞行时间二次离子质谱分析

• 批准号: 249230287
• 金额: --
• 依托单位: Justus-Liebig-Universität Gießen
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2013
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2012-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/249230287?language=en
• 关键词: Argon; Cluster; Quelle; mit; integriertem

Die Untersuchung von biologischen und organischen Proben ist in der Sekundärionenmassenspektrometrie problematisch, da mit konventionellen Analyse- und Sputterquellen die vorhandenen Moleküle zu stark fragmentiert, bzw. beim Tiefenprofilieren die Probenbestandteile bereits nach kurzer Zeit „vermischt" werden. Bei der Verwendung einer Argon-Clusterquelle sind diese Effekte deutlich unterdrückt. Auch vergleichsweise schwere Vorläufermoleküle bleiben beim Ionenbeschuss unfragmentiert und können als Sekundärion delektiert werden. Da in unserer Arbeitsgruppe vermehrt organische und biologische Proben untersucht werden, die auch in den mitnutzenden Gruppen studiert werden, soll das vorhandene Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometer mit einer Argon-Clusterquelle sowie einer Focused Ion Beam-Quelle (FIB) nachgerüstet werden. Letztere ermöglicht die kontaminationsfreie Herstellung von Probenquerschnitten, die anschließend massenspektrometrisch analysiert werden.

生物学和组织学的研究是一个复杂的光谱测量问题，通过常规的分析和溅射，分子的处理是非常困难的。在未来几年里，可能出现的问题将被”验证“韦尔登。在使用氩离子交换器之前，这会对德国的印刷产生影响。Auch vergleichsweise schwere Vorläufermoleküle bleiben beim Ionenbeschuss unfragmentiert und können als Sekundärion delektiert韦尔登.在我们的工作组进行了组织学和生物学实验韦尔登，也在我们的研究小组进行了韦尔登的研究，使用了一个带有氩离子束的聚焦离子束（FIB）韦尔登。让我们来看看污染物的来源，分析韦尔登的方法。

项目成果

XPS and SIMS Analysis of Solid Electrolyte Interphases on Lithium Formed by Ether-Based Electrolytes

• DOI: 10.1149/2.0851714jes
• 发表时间: 2017-01-01
• 期刊: JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
• 影响因子: 3.9
• 作者: Fiedler, Carsten;Luerssen, Bjoern;Janek, Juergen
• 通讯作者: Janek, Juergen

Improving SIMS imaging of FIB bevel cuts with an elaborate sample holder

使用精心设计的样品架改进 FIB 斜切的 SIMS 成像

• DOI: 10.1116/1.4989554
• 发表时间: 2018
• 期刊: Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
• 作者: C. Schneider;H. Weigand;M. Rohnke
• 通讯作者: M. Rohnke