Argon Cluster Quelle mit integriertem Focus Ion Beam System für die Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie

生物学和组织学的研究是一个复杂的光谱测量问题，通过常规的分析和溅射，分子的处理是非常困难的。在未来几年里，可能出现的问题将被”验证“韦尔登。在使用氩离子交换器之前，这会对德国的印刷产生影响。Auch vergleichsweise schwere Vorläufermoleküle bleiben beim Ionenbeschuss unfragmentiert und können als Sekundärion delektiert韦尔登.在我们的工作组进行了组织学和生物学实验韦尔登，也在我们的研究小组进行了韦尔登的研究，使用了一个带有氩离子束的聚焦离子束韦尔登。让我们来看看污染物的来源，分析韦尔登的方法。

Die Untersuchung von biologischen und organischen Proben ist in der Sekundärionenmassenspektrometrie problematisch, da mit konventionellen Analyse- und Sputterquellen die vorhandenen Moleküle zu stark fragmentiert, bzw. beim Tiefenprofilieren die Probenbestandteile bereits nach kurzer Zeit „vermischt" werden. Bei der Verwendung einer Argon-Clusterquelle sind diese Effekte deutlich unterdrückt. Auch vergleichsweise schwere Vorläufermoleküle bleiben beim Ionenbeschuss unfragmentiert und können als Sekundärion delektiert werden. Da in unserer Arbeitsgruppe vermehrt organische und biologische Proben untersucht werden, die auch in den mitnutzenden Gruppen studiert werden, soll das vorhandene Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometer mit einer Argon-Clusterquelle sowie einer Focused Ion Beam-Quelle (FIB) nachgerüstet werden. Letztere ermöglicht die kontaminationsfreie Herstellung von Probenquerschnitten, die anschließend massenspektrometrisch analysiert werden.