Improving SIMS imaging of FIB bevel cuts with an elaborate sample holder
Improving SIMS imaging of FIB bevel cuts with an elaborate sample holder
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使用精心设计的样品架改进 FIB 斜切的 SIMS 成像
DOI：
10.1116/1.4989554
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
M. Rohnke
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
C. Schneider;H. Weigand;M. Rohnke
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--
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