Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

“一种带有聚焦离子辐射（FIB-REM）的光栅扫描显微镜，可以通过显微镜观察到的三维图像进行测量。华大基因通过其在英国的高分辨率研究，生产出了最小（<10 μ m）的探头，并仅用一台FIB-REM进行透射电子显微镜（TEM）的分析。在FIB-REM韦尔登exakt定向Proben从spezifischen Bereichen eines experimentellen产品extrahiert和controlliert bis auf Elektronenergerrenz heruntergedünnt。在Diamantstempel-Presse中进行了大量的实验，并通过exakten extensionen进行了预处理，仅对韦尔登产品进行了初步研究。这是一个在Hochdruckbereich的Forschungsfront zu immer höheren Drucken bzw。小规模的生产将使生产准备工作与实践中的传统方法结合起来。Um daher im Wettbewerb in der Hochdruckforschung bestehen zu können，ist der Zugang zu einem FIB-REM für das BGI unabdinglich，da es keine derartige Anlage direkt zur Verfügung hat.“

„Ein Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-REM) erlaubt es, Proben dreidimensional mit Mikrometerauflösung unter gleichzeitiger Beobachtung zu bearbeiten. Das BGI führt Hochdruckforschung in einem Grenzbereich durch, wo die produzierten Proben extrem klein (<10 Mikrometer) und nur noch mit einem FIB-REM für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) präparierbar sind. Im FIB-REM werden exakt orientierte Proben aus spezifischen Bereichen eines experimentellen Produkts extrahiert und kontrolliert bis auf Elektronentransparenz heruntergedünnt. Darüber hinaus erfordern viele experimentelle Ansätze in der Diamantstempel-Presse sorgfältig präparierte Ausgangsproben mit exakten Dimensionen, die nur mithilfe des FIB-REM produziert werden können. Da sich die Forschungsfront im Hochdruckbereich zu immer höheren Drucken bzw. kleineren Probenvolumen hinbewegt, wird die Probenpräparation mit konventionellen Methoden praktisch unmöglich. Um daher im Wettbewerb in der Hochdruckforschung bestehen zu können, ist der Zugang zu einem FIB-REM für das BGI unabdinglich, da es keine derartige Anlage direkt zur Verfügung hat.“