Photoelektronenspektrometer (XPS)

艺术和Zusammensetzung der GrizfläChen in Böden steuern ma？geblich die Bodenreaktivität and Damit wichtige Bodenfunktionen.光电学(XPS)和光电学(XPS)结合在一起。Dank einer TiefenauflöSong von&lt；10 nm be einer lateralen ortsauflöSong von&lt；3um eignet sich XPS in Weise zur Untersusuung von GrizfläChen。现代XPS错误分析(Minerale，Organche Substanz)。在Böden的Einsat z von XPS ermöglicht die umfassende Analyst der Oberflächeneigenschaften Organcher and Minalischer BodenbeStandteile Sowie der Oberflächenreaktionen(Verwitterung，吸附，Fälung，Aggregation)。Mittels Neuer Sutter-Techniken Unter einsat z单体和聚合物ArGonion en Lassen sich arGonion en Lassen sich artefaktfreie Untersuhugen zur Tiefenvertiilung von Elementen in Mineralen，Gesteinen and Bodenagregten Sowieüber C-und N-Bindungsformen Organcher Substanz duchführen。他说：“这是一个非常重要的问题。”Sine nowme Analytische Flexibilität Macht XPS zur Methode der Wahl zur Untersusuung der Oberflächeneigenschaften and Reaktitiität von Böden aber auch von Mineralen and Gesteinen.

Art und Zusammensetzung der Grenzflächen in Böden steuern maßgeblich die Bodenreaktivität und damit wichtige Bodenfunktionen. Photoelektronenspektroskopie (XPS) nutzt die Bindungsenergie der Photoelektronen zur Identifizierung von Elementen sowie ihrer Oxidations- und Bindungszustände. Dank einer Tiefenauflösung von <10 nm bei einer lateralen Ortsauflösung von <3 µm eignet sich XPS in idealer Weise zur Untersuchung von Grenzflächen. Moderne XPS erlaubt zudem die aufladungsfreie Analyse elektrischer Nichtleiter (Minerale, organische Substanz). Der Einsatz von XPS ermöglicht die umfassende Analyse der Oberflächeneigenschaften organischer und mineralischer Bodenbestandteile sowie der Oberflächenreaktionen (Verwitterung, Adsorption, Fällung, Aggregation) in Böden. Mittels neuer Sputter-Techniken unter Einsatz monomerer und polymerer Argonionen lassen sich artefaktfreie Untersuchungen zur Tiefenverteilung von Elementen in Mineralen, Gesteinen und Bodenaggregaten sowie über C- und N-Bindungsformen organischer Substanz durchführen. Die Verwendung von Silberanoden als Strahlenquelle ermöglicht nun auchdie detailliertere Untersuchung der Bindungsumgebung von Elementen wie Silizium und Phosphor. Seine enorme analytische Flexibilität macht XPS zur Methode der Wahl zur Untersuchung der Oberflächeneigenschaften und Reaktivität von Böden aber auch von Mineralen und Gesteinen.