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レイアウト設計を考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成技術の研究

考虑布局设计的电阻性开路故障测试模式生成技术研究

基本信息

批准号：
19K20237
负责人：
山崎紘史
金额：
$ 2.66万
依托单位：
Nihon University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份：
2019
资助国家：
日本
起止时间：
2019-04-01 至 2022-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

本研究の目的は、重み付き部分充足可能問題を解くことが可能なパーシャルMAX-SATソルバを利用し、抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成法および、低消費電力テストパターン生成法を提案することである。半導体の微細化技術がますます進歩する中で、抵抗性オープン故障のテスト生成法の提案や、低消費電力テストパターン生成法を改善することは非常に重要であると考える。上記問題の実現に向けて、これまでレイアウト設計済みの回路データの作成、遅延値や隣接信号線によるクロストークを考慮した抵抗性オープン故障シミュレーターの開発、抵抗性オープン故障のテスト生成モデルの提案、テスト生成プログラムの実装、故障伝搬経路抽出プログラムの実装等を行ってきた。また、最終年度ではパーシャルMAX-SATソルバを利用した低消費電力ドントケア割当法の提案とプログラムの実装を行った。本研究の成果として、抵抗性オープン故障の故障検出率が、市販のATPGツールと比較して約20%の向上することが確認できた。また、パーシャルMAX-SATソルバを利用した低消費電力ドントケア割当法については、従来手法では低消費電力なテストパターン生成ができなかった故障について、低消費電力なテストパターン生成が可能であることを確認できた。一方、本研究の課題としては、抵抗性オープン故障のテストパターン生成時の前処理で実行する故障伝搬経路抽出プログラムの高速化や、パーシャルMAX-SATソルバの処理時間の高速化などが挙げられる。また、提案手法のATPGによる抵抗性オープン故障の故障検出率についても、遷移故障モデルと比較すると低かったため、テスト生成モデルの制約式についても改善の余地があると思われる。

The purpose of this study is to solve the problem of partial sufficiency, to propose a method for generating low power consumption and to make use of the MAX-SAT solution. It is very important to improve the miniaturization technology of semiconductor, the proposal of fault resistance generation method and the low power consumption generation method. Note the implementation direction of the above problem, the design of the circuit design, the delay value of the adjacent signal line, the development of the resistance fault, the generation of the resistance fault, the implementation of the fault generation, the implementation of the fault extraction, etc. In the final year, the MAX-SAT solution will be implemented using a proposal for a low-consumption power generation method. The results of this study show that the failure detection rate of resistance is about 20% compared with that of the market. To confirm the possibility of generating low power consumption by using low power consumption MAX-SAT solutions One aspect of this research is to improve the speed of fault extraction and the speed of processing time by improving the resistance to fault generation and pre-processing. ATPG resistance, fault detection rate, migration fault detection rate, comparison rate, fault generation rate, constraint rate, room for improvement.

项目成果

期刊论文数量（5）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Partial MaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア割当て法

使用Partial MaxSAT的面向低功耗的无关分配方法

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
原田彰吾;イスラムマーフズル;久門尚史;和田修己;三澤健一郎，平間勇貫，細川利典，山崎紘史，吉村正義，新井雅之
通讯作者：
三澤健一郎，平間勇貫，細川利典，山崎紘史，吉村正義，新井雅之

MAX-SATと両立故障グラフを用いたMバイNテスト圧縮法

使用 MAX-SAT 和兼容故障图的 M-by-N 测试压缩方法

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
Khine Yin Mon;Masanari Kondo;Eunjong Choi;Osamu Mizuno;上原悠槙;浅見竜輝，細川利典，山崎紘史，吉村正義
通讯作者：
浅見竜輝，細川利典，山崎紘史，吉村正義

コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法

提高控制器过渡故障检测率的控制器扩展方法

DOI：
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
0
作者：
K. Kitamura;K. Takagi;and N. Takagi;飯塚恭平・細川利典・山崎紘史・吉村正義
通讯作者：
飯塚恭平・細川利典・山崎紘史・吉村正義

遷移故障の並列テストのためのコントローラ拡大法

并行测试过渡故障的控制器扩展方法

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
永田将大;近藤真史; 茅野功;横川智教; 佐藤洋一郎;竹内勇希，細川利典，山崎紘史，吉村正義
通讯作者：
竹内勇希，細川利典，山崎紘史，吉村正義

パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法

使用部分 MAX-SAT 的电阻性开路故障测试生成方法

DOI：
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
0
作者：
Ryuki Asami;Toshinori Hosokawa;Masayoshi Yoshimura;Masayuki Arai;山崎紘史，石山悠太，松田竜馬，細川利典，吉村正義，新井雅之，四柳浩之，橋爪正樹
通讯作者：
山崎紘史，石山悠太，松田竜馬，細川利典，吉村正義，新井雅之，四柳浩之，橋爪正樹