Development of low-dose atomic resolution STEM imaging method
Development of low-dose atomic resolution STEM imaging method
批准号:
20H00301
负责人:
柴田 直哉
金额:
$28.54万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
财政年份:
2020
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2020-04-01 至 2021-03-31
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英文摘要
本年度は以下の成果を得た。本年度は、既存の16分割型検出器を用いて, 位相コントラスト伝達関数のS/N比を最大化するような各セグメント像の重み付け演算手法を検討し、低ドーズでも極めて高いコントラストで原子分解能像が得られる新たなSTEM手法(OBF法)の開発に成功した。また、この手法を実際の実験に応用し、Li系正極材料中のLi原子を他の明視野STEM法に比べて高いS/Nで結像できることを実証した。また、上述のOBF法を他のSTEM位相イメージング法(BF, ABF, DPC, タイコグラフィーなど)とPCTFを用いて定量的に相対比較し、広い空間周波数に渡ってOBF法が少ない電子数でも高コントラストに観察できる優位性を有することを実証した。更にOBF法を実時間観察に用いるためのアルゴリズムを開発し、実際の実験ソフトウエアに実装して検証を行った。
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会议论文
微分位相コントラストSTEM法による材料局所電磁場解析
使用微分相衬 STEM 方法进行材料局域电磁场分析
DOI:
--
发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
--
作者:
[岡崎智久, 岩田具治, 岩城麻子, 藤原広行, 上田修功, 柴田直哉]
通讯作者:
柴田直哉
DOI:
10.1016/j.ultramic.2020.113133
发表时间:
2021-01-01
期刊:
ULTRAMICROSCOPY
影响因子:
2.2
作者:
[Ooe, Kousuke, Seki, Takehito, Shibata, Naoya]
通讯作者:
Shibata, Naoya
Development of atomic-resolution magnetic field imaging electron microscopy and its application to interface characterization in magnetic materials
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批准号:20H05659
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
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资助金额:$123.39万
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财政年份:2020
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负责人:柴田 直哉
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依托单位:
走査透過型電子顕微鏡法を用いた定量元素マッピング
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批准号:13F03746
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$1.47万
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财政年份:2013
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负责人:柴田 直哉
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依托单位:
走査型透過電子顕微鏡法を用いたセラミック材料界面のサブナノ構造解析と機能特性
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批准号:17760558
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.18万
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财政年份:2005
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负责人:柴田 直哉
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依托单位:
相変態を伴うセラミック材料の微細組織形成に関する研究
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批准号:00J09822
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$1.92万
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财政年份:2000
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负责人:柴田 直哉
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依托单位: