Development of atomic-resolution magnetic field imaging electron microscopy and its application to interface characterization in magnetic materials
Development of atomic-resolution magnetic field imaging electron microscopy and its application to interface characterization in magnetic materials
批准号:
20H05659
负责人:
柴田 直哉
金额:
$123.39万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
财政年份:
2020
资助国家:
日本
项目状态:
未结题
起止时间:
2020-08-31 至 2025-03-31
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本年度は、以下の研究成果を得た。①昨年度導入したTEM収差補正器を利用して、磁場フリー条件下でのローレンツ電子顕微鏡観察を可能にする光学系を構築した。その結果、磁場フリー条件において、磁性ダイナミクス観察が可能になった。また、ローレンツ電子顕微鏡観察中に外部から磁場を印加する機能も実装した。次に、磁場フリーローレンツ電子顕微鏡法を用いて、磁気スキルミオン形成のその場観察を実施した。その結果、無磁場条件ではらせん磁性構造が安定に形成されるが、垂直磁場を徐々に印加することで磁気スキルミオンが一気に生成し、強い磁場を印加すると消滅することを動的に観察することに成功した。また、逆向きの垂直磁場を印加するとスキルミオンの磁場が反転することも実験的に観察した。②磁場フリー電子顕微鏡におけるDPC STEM法を用いて、NdFeB磁石中の磁壁幅の精密計測に成功した。その結果、Nd組成が高い領域とNdがLaで置換された領域とで磁壁幅に明瞭な変化が生じることを直接観察から明らかにした。本結果は、磁壁幅の精密計測から局所磁気パラメーターの抽出が可能であることを示唆するものである。③バイクリスタルを用いた電磁鋼板の粒界原子構造解析を行い、これまでの粒界では報告の無い特異な粒界コア構造の形成を示唆する結果を得た。
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Direct atomistic defect observations by depth sectioning and dynamic STEM
通过深度切片和动态 STEM 进行直接原子缺陷观察
DOI:
--
发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
--
作者:
[R. Ishikawa, N. Shibata, Y. Ikuhara]
通讯作者:
Y. Ikuhara
Magnetic-field-free atomic resolution STEM for magnetic materials
用于磁性材料的无磁场原子分辨率 STEM
DOI:
--
发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
--
作者:
[N. Shibata]
通讯作者:
N. Shibata
igh resolution electric field mapping at crystal interfaces by tilt-scan averaged DPC STEM”
通过倾斜扫描平均 DPC STEM 在晶体界面处进行高分辨率电场测绘”
DOI:
--
发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Satoko Toyama, Takehito Seki, Bin Feng, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata]
通讯作者:
Naoya Shibata
原子分解能磁場フリー電子顕微鏡(MARS)の開発と材料応用
原子分辨率无磁场电子显微镜(MARS)开发及材料应用
DOI:
--
发表时间:
2023
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Ko Seongjae, Takenaka Norio, Kitada Atsushi, Yamada Atsuo, 柴田 直哉]
通讯作者:
柴田 直哉
深さ断層法による原子分解能3次元計測
使用深度断层扫描进行原子分辨率 3D 测量
DOI:
--
发表时间:
2023
期刊:
影响因子:
--
作者:
[戸田広樹, 兼賀量一, 姫田雄一郎, 坂田健, 西林仁昭, 石川 亮]
通讯作者:
石川 亮
共 138 条
Development of low-dose atomic resolution STEM imaging method
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批准号:20H00301
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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资助金额:$28.54万
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财政年份:2020
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负责人:柴田 直哉
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依托单位:
走査透過型電子顕微鏡法を用いた定量元素マッピング
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批准号:13F03746
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$1.47万
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财政年份:2013
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负责人:柴田 直哉
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依托单位:
走査型透過電子顕微鏡法を用いたセラミック材料界面のサブナノ構造解析と機能特性
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批准号:17760558
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.18万
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财政年份:2005
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负责人:柴田 直哉
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依托单位:
相変態を伴うセラミック材料の微細組織形成に関する研究
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批准号:00J09822
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$1.92万
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财政年份:2000
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负责人:柴田 直哉
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依托单位:
海外基金