Improvement of device characteristics by elucidation of non-radiative defect formation mechanism in diamond crystals

通过阐明金刚石晶体中非辐射缺陷形成机制来改善器件特性

基本信息

  • 批准号:
    19K05293
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.58万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2019
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2019-04-01 至 2023-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(13)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
SiO2/ホウ素添加CVDダイヤモンド界面の過渡光容量法を用いた界面準位評価
采用瞬态光电容法评估SiO2/掺硼CVD金刚石界面的界面态
  • DOI:
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    毎田 修;児玉 大志;兼本 大輔,廣瀬 哲也
  • 通讯作者:
    兼本 大輔,廣瀬 哲也
過渡光容量分光法を用いたボロンドープダイヤモンド薄膜の非輻射欠陥評価
使用瞬态光学电容光谱法评估硼掺杂金刚石薄膜的非辐射缺陷
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    O. Maida;T. Kodama;D. Kanemoto and Tetsuya Hirose;毎田 修,兼本 大輔,廣瀬 哲也;毎田 修,兼本 大輔,廣瀬 哲也;Osamu Maida and Ryosuke Yamashita;毎田修,兼本大輔,廣瀬哲也;毎田修,兼本大輔,廣瀬哲也
  • 通讯作者:
    毎田修,兼本大輔,廣瀬哲也
Characterization of deep interface states in SiO2/B-doped diamond using the transient photocapacitance method
使用瞬态光电容法表征 SiO2/B 掺杂金刚石的深界面态
  • DOI:
    10.1016/j.tsf.2021.139026
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    2.1
  • 作者:
    O. Maida;D. Kanemoto;and T. Hirose
  • 通讯作者:
    and T. Hirose
ホモエピタキシャル成長ホウ素ドープダイヤモンド半導体結晶の深い欠陥準位評価
同质外延生长的掺硼金刚石半导体晶体中深缺陷水平的评估
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    毎田 修;市川 修平;小島一信
  • 通讯作者:
    小島一信
Characterization of deep level defects in boron-doped (001) and (111) diamond films
硼掺杂(001)和(111)金刚石薄膜深能级缺陷的表征
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    O. Maida;S. Ichikawa;and K. Kojima
  • 通讯作者:
    and K. Kojima
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  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Maruoka Kenji;Naito Taiki;Maida Osamu;Ito Toshimichi;Susumu Horita and Puneet Jain
  • 通讯作者:
    Susumu Horita and Puneet Jain
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  • DOI:
    10.1587/elex.17.20200103
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    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0.8
  • 作者:
    Matsumoto Kaori;Asano Hiroki;Nakazawa Yuichiro;Kuroki Nobutaka;Numa Masahiro;Maida Osamu;Kanemoto Daisuke;Hirose Tetsuya
  • 通讯作者:
    Hirose Tetsuya
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  • DOI:
    10.1587/elex.18.20210065
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0.8
  • 作者:
    Nishi Masaya;Matsumoto Kaori;Kuroki Nobutaka;Numa Masahiro;Sebe Hikaru;Matsuzuka Ryo;Maida Osamu;Kanemoto Daisuke;Hirose Tetsuya
  • 通讯作者:
    Hirose Tetsuya
Highly effective removal of OH bonds in low-temperature silicon oxide films by annealing with ammonia gas at a low temperature of 175 °C
175℃低温氨气退火高效去除低温氧化硅薄膜中的OH键
  • DOI:
    10.7567/1347-4065/aafb64
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Miyawaki Kenta;Yamashita Ryosuke;Kodama Taishi;Maida Osamu;Susumu Horita
  • 通讯作者:
    Susumu Horita

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    2023
  • 资助金额:
    $ 2.58万
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    2018
  • 资助金额:
    $ 2.58万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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  • 批准号:
    05J11745
  • 财政年份:
    2005
  • 资助金额:
    $ 2.58万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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  • 批准号:
    08455457
  • 财政年份:
    1996
  • 资助金额:
    $ 2.58万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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  • 批准号:
    05650623
  • 财政年份:
    1993
  • 资助金额:
    $ 2.58万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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  • 批准号:
    05650626
  • 财政年份:
    1993
  • 资助金额:
    $ 2.58万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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  • 批准号:
    04650025
  • 财政年份:
    1992
  • 资助金额:
    $ 2.58万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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知道了