Development of Dielectric Constant Nano-Imaging Method Using SNDM and its Application to Materials and Device Characterization

SNDM介电常数纳米成像方法的发展及其在材料和器件表征中的应用

• 批准号: 18K04932
• 负责人: Hiranaga Yoshiomi
• 金额: $ 2.83万
• 依托单位: Tohoku University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2018
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2018-04-01 至 2023-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-18K04932/
• 关键词: プローブ顕微鏡; 走査型非線形誘電率顕微鏡; 誘電率分布計測; 半導体計測; 誘電体; 誘電率イメージング; 半導体; キャリア分布イメージング; 走査型プローブ顕微鏡; 誘電率

项目成果

Nanoscale mapping to assess the asymmetry of local C?V curves obtained from ferroelectric materials

纳米级绘图，用于评估从铁电材料获得的局部 C?V 曲线的不对称性

• DOI: 10.35848/1347-4065/ac7f7a
• 发表时间: 2022
• 期刊: Japanese Journal of Applied Physics
• 影响因子: 1.5
• 作者: Hiranaga Yoshiomi;Mimura Takanori;Shimizu Takao;Funakubo Hiroshi;Cho Yasuo
• 通讯作者: Cho Yasuo

Recording Medium Design Aiming at Realizing Ferroelectric Probe Data Storage

旨在实现铁电探针数据存储的记录介质设计

• 发表时间: 2021
• 作者: Kohei Yamasue;and Yasuo Cho;Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho;Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
• 通讯作者: Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho

∂C/∂z-SNDM法による半導体ドーパント濃度測定に関する数値シミュレーション

使用∂C/∂z-SNDM方法测量半导体掺杂剂浓度的数值模拟

• 发表时间: 2018
• 作者: 青山 哲也;余 健;村中 厚哉;石飛 昌光;梅澤 洋史;松本 真哉;内山 真伸;山形 豊;田中 利彦;前川雅樹;福島鉄也;平永 良臣，長 康雄
• 通讯作者: 平永 良臣，長 康雄

Statistical analysis of local C-V map data for ferroelectric thin films

铁电薄膜局部C-V图数据统计分析

• 发表时间: 2022
• 作者: Yoshiomi Hiranaga;Yasuo Cho
• 通讯作者: Yasuo Cho

High-precision local C?V mapping for ferroelectrics using principal component analysis

使用主成分分析对铁电体进行高精度局部 C?V 映射

• DOI: 10.35848/1347-4065/ac13d9
• 发表时间: 2021
• 期刊: Japanese Journal of Applied Physics
• 影响因子: 1.5
• 作者: Hiranaga Yoshiomi;Mimura Takanori;Shimizu Takao;Funakubo Hiroshi;Cho Yasuo
• 通讯作者: Cho Yasuo