Development of Dielectric Constant Nano-Imaging Method Using SNDM and its Application to Materials and Device Characterization
SNDM介电常数纳米成像方法的发展及其在材料和器件表征中的应用
基本信息
- 批准号:18K04932
- 负责人:
- 金额:$ 2.83万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份:2018
- 资助国家:日本
- 起止时间:2018-04-01 至 2023-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(19)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Nanoscale mapping to assess the asymmetry of local C?V curves obtained from ferroelectric materials
纳米级绘图,用于评估从铁电材料获得的局部 C?V 曲线的不对称性
- DOI:10.35848/1347-4065/ac7f7a
- 发表时间:2022
- 期刊:
- 影响因子:1.5
- 作者:Hiranaga Yoshiomi;Mimura Takanori;Shimizu Takao;Funakubo Hiroshi;Cho Yasuo
- 通讯作者:Cho Yasuo
Recording Medium Design Aiming at Realizing Ferroelectric Probe Data Storage
旨在实现铁电探针数据存储的记录介质设计
- DOI:
- 发表时间:2021
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Kohei Yamasue;and Yasuo Cho;Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho;Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
- 通讯作者:Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
∂C/∂z-SNDM法による半導体ドーパント濃度測定に関する数値シミュレーション
使用∂C/∂z-SNDM方法测量半导体掺杂剂浓度的数值模拟
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:青山 哲也;余 健;村中 厚哉;石飛 昌光;梅澤 洋史;松本 真哉;内山 真伸;山形 豊;田中 利彦;前川雅樹;福島鉄也;平永 良臣,長 康雄
- 通讯作者:平永 良臣,長 康雄
Statistical analysis of local C-V map data for ferroelectric thin films
铁电薄膜局部C-V图数据统计分析
- DOI:
- 发表时间:2022
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Yoshiomi Hiranaga;Yasuo Cho
- 通讯作者:Yasuo Cho
High-precision local C?V mapping for ferroelectrics using principal component analysis
使用主成分分析对铁电体进行高精度局部 C?V 映射
- DOI:10.35848/1347-4065/ac13d9
- 发表时间:2021
- 期刊:
- 影响因子:1.5
- 作者:Hiranaga Yoshiomi;Mimura Takanori;Shimizu Takao;Funakubo Hiroshi;Cho Yasuo
- 通讯作者:Cho Yasuo
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Carrier distribution imaging using ∂C/∂z-mode scanning nonlinear dielectric microscopy
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Cho Yasuo
ソフトアクチュエータを用いた蠕動運動型マイクロゲルロボットの駆動
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- DOI:
- 发表时间:
2021 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
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小寺 駿之亮,横山 義之,早川 健
Hiranaga Yoshiomi的其他文献
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