Development of Dielectric Constant Nano-Imaging Method Using SNDM and its Application to Materials and Device Characterization
Development of Dielectric Constant Nano-Imaging Method Using SNDM and its Application to Materials and Device Characterization
SNDM介电常数纳米成像方法的发展及其在材料和器件表征中的应用
批准号：
18K04932
负责人：
Hiranaga Yoshiomi
金额：
$2.83万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2018-04-01 至 2023-03-31
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Nanoscale mapping to assess the asymmetry of local C?V curves obtained from ferroelectric materials
纳米级绘图，用于评估从铁电材料获得的局部 C?V 曲线的不对称性
纳米级绘图，用于评估从铁电材料获得的局部 C?V 曲线的不对称性
DOI：
10.35848/1347-4065/ac7f7a
发表时间：
2022
期刊：
Japanese Journal of Applied Physics
影响因子：
1.5
作者：
[Hiranaga Yoshiomi, Mimura Takanori, Shimizu Takao, Funakubo Hiroshi, Cho Yasuo]
通讯作者：
Cho Yasuo
Recording Medium Design Aiming at Realizing Ferroelectric Probe Data Storage
旨在实现铁电探针数据存储的记录介质设计
旨在实现铁电探针数据存储的记录介质设计
DOI：
--
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Kohei Yamasue, and Yasuo Cho, Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho, Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho]
通讯作者：
Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
∂C/∂z-SNDM法による半導体ドーパント濃度測定に関する数値シミュレーション
使用∂C/∂z-SNDM方法测量半导体掺杂剂浓度的数值模拟
使用∂C/∂z-SNDM方法测量半导体掺杂剂浓度的数值模拟
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[青山 哲也, 余 健, 村中 厚哉, 石飛 昌光, 梅澤 洋史, 松本 真哉, 内山 真伸, 山形 豊, 田中 利彦, 前川雅樹, 福島鉄也, 平永 良臣，長 康雄]
通讯作者：
平永 良臣，長 康雄
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho]
通讯作者：
Yasuo Cho
High-precision local C?V mapping for ferroelectrics using principal component analysis
使用主成分分析对铁电体进行高精度局部 C?V 映射
使用主成分分析对铁电体进行高精度局部 C?V 映射
DOI：
10.35848/1347-4065/ac13d9
发表时间：
2021
期刊：
Japanese Journal of Applied Physics
影响因子：
1.5
作者：
[Hiranaga Yoshiomi, Mimura Takanori, Shimizu Takao, Funakubo Hiroshi, Cho Yasuo]
通讯作者：
Cho Yasuo
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