Site-selective analysis of local structure and electronic states of ferroelectrics using electron spectroscopic multi-probes
Site-selective analysis of local structure and electronic states of ferroelectrics using electron spectroscopic multi-probes
批准号:
18K18931
负责人:
Tsuda Kenji
金额:
$3.99万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
财政年份:
2018
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2018-06-29 至 2020-03-31
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収束電子回折法を用いた試料ダメージ層の定量評価
会聚电子衍射法定量评价样品损伤层
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[阿部来紀, 渡辺将仁, 上田恭介, 松若大介, 成島尚之, 上石正樹,森川大輔,佐藤 香織,津田 健治,寺内正己]
通讯作者:
上石正樹,森川大輔,佐藤 香織,津田 健治,寺内正己
大角度ロッキングCBED図形を用いた結晶構造因子精密化
使用大角度锁定 CBED 形状细化晶体结构因子
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[上田恭介, 廣瀬祐介, 大宮正仁, 成島尚之, 津田健治, 森川大輔,津田健治]
通讯作者:
森川大輔,津田健治
ピクセル型STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による強誘電体の局所構造解析
使用像素型 STEM 探测器通过 STEM-CBED 方法分析铁电材料的局部结构
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[津田健治, 佐川隆亮,橋口裕樹,近藤行人]
通讯作者:
佐川隆亮,橋口裕樹,近藤行人
ピクセル型高速STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による局所構造解析
使用像素型高速 STEM 检测器使用 STEM-CBED 方法进行局部结构分析
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[津田健治, 佐川隆亮, 橋口裕樹, 近藤行人]
通讯作者:
近藤行人
チェンマイ大学理学部(タイ)
清迈大学理学院(泰国)
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
共 11 条
Development of a 3d local crystal structure analysis method using electron nano-probe and its application to relaxors
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批准号:18H03674
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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资助金额:$28.7万
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财政年份:2018
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负责人:Tsuda Kenji
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依托单位:
Local structure analysis and polarization mapping of polarization nano domains of ferroelectrics using STEM-CBED
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批准号:25287068
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额:$12.48万
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财政年份:2013
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负责人:Tsuda Kenji
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依托单位:
海外基金