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Epitaxial growth of Ge with low defect density on ultrathin Si layers

Epitaxial growth of Ge with low defect density on ultrathin Si layers
超薄硅层上低缺陷密度Ge外延生长
批准号:
25630121
负责人:
Ishikawa Yasuhiko
金额:
$2.58万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份:
2013
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2013-04-01 至 2016-03-31

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通讯作者: Sho Nagatomo and Yasuhiko Ishikawa
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