Schnelles Rasterkraftmikroskop mit Fluoreszenzmikroskop

点击翻译按钮获取中文摘要

Es wird ein schnelles Rasterkraftmikroskop (AFM) mit hoher lateraler Scangeschwindigkeit, gekoppelt mit einem inversen Fluoreszenzmikroskop beantragt. Dieses Messsystem ist notwendig, um die in den Beiblättern 'Forschung' aufgeführten Fragestellungen beantworten zu können und neue, geplante Forschungsvorhaben zu ermöglichen. Viele Fragestellungen der beteiligten Arbeitsgruppen schließen die Dynamik von Oberflächenprozessen ein. Konkret soll die laterale Organisation von Lipiden und Membran-assoziierten Proteinen auf unterschiedlichen Oberflächen in Echtzeit verfolgt werden. Dabei sollen verschiedenen Kontrastverfahren (z.B. Topographie, molekulare Erkennung, Materialeigenschaften, Reibung, Energiedissipation) zum Einsatz kommen. Ferner ist geplant, die Dynamik von Minimalkortices (Aktin-Zytoskelett gebunden an Membranen) zu untersuchen und die mechanische Reaktion von adhärenten Säugetierzellen auf externe Stimuli als Funktion der Zeit zu messen. Eine wichtige Voraussetzung neben der schnellen Erfassung der Topographie und Materialeigenschaften ist die Kombinierbarkeit mit fluoreszenzmikroskopischen Methoden.