Rasterkraftmikroskop mit Heliumkryostat (4K) und Vektormagnet (5T/2T/2T)

点击翻译按钮获取中文摘要

Beantragt wird ein Tieftemperatur-Rastersondenmikroskop (4K bis 300K) mit Vektormagnet 5T/2T/2T. Folgende Mikroskopietechniken können mit diesem Großgerät durch die Verwendung zweier AFM-Mikroskope durchgeführt werden: Magnetkraftmikroskopie, Rasterkraftmikroskopie an isolierenden und leitfähigen Proben, Piezoantwortmikroskopie und Kelvinsondenmikroskopie. Ein AFM-Inset dient der Analyse von ferroelektrischen und multiferroischen Domänenstrukturen (Anlegen von elektrischen Feldern durch zusätzlich Kabel). Der zweite Inset wird für die Analyse von magnetischen Strukturen in der Größenordnung von 10nm optimiert (reduzierte thermische Last, Betrieb im Vakuum). Zusätzliche Optionen (Basismessstab und Lock-In SR860 Verstärker) erlauben die Verwendung von bereits vorhandener Messtechnik (dielektrische Spektroskopie, Magnetostromund Pyrostrommessung, ferroelektrische Hysteresemessungen, etc.) im bisher nicht verfügbaren Vektormagnetfeld. Somit können mit diesem Großgerät bestehende und geplante Aktivitäten in der Analyse und Manipulation neuartiger (multi)funktionaler elektronisch korrelierter Materialien (Ferroelektrika, Multiferroika, Skyrmionen, magnetische Materialien, Spin-Spiral-Systeme, etc.) von Makro- zu Nanostrukturen erfolgen.