Rasterkraftmikroskop mit Fluoreszenzeinrichtung

点击翻译按钮获取中文摘要

Mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) können Oberflächenstrukturen charakterisiert werden. Weiterhin können Informationen über z.B. die Elastizität einer Oberfläche erfasst oder die Adhäsionskraft zwischen AFM-Sondenspitze und Unterlage bestimmt werden. Das AFM soll in unseren Projekten genutzt werden, um a) Oberflächen genetisch modifizierter Bakterien zu charakterisieren, um b) deren Haftkraft zu unterschiedlichen Oberflächen zu bestimmen und um c) deren Haftmechanismen zu identifizieren. Fernziel ist, die Bedingungen und Materialeigenschaften angeben zu können, unter denen die Bildung eines bakteriellen Biofilms ausbleibt. Dies hat hohe klinische Relevanz, z.B. bei der Wahl des Materials von Implantaten. Die Gruppe AG Herrmann ist führend auf dem Gebiet der Adhäsion von Bakterien, speziell von Staphylokokken und deren Genmodifikationen und betreiben ein dafür hervorragend ausgestattetes S2-Labor. Die AG Jacobs bringt ihre Expertise ein im Bereich der Oberflächenpräparation und -charakterisierung (u.a. mit dem AFM), sowie der Biofilmbildung. Die Untersuchungen können derzeit nicht durchgeführt werden, da es kein AFM in einem S2-Labor an der Universität des Saarlandes gibt. Das projektierte AFM benötigt als Aufsatz ein Lichtmikroskop mit Fluoreszenzausrüstung, um die unterschiedlich genmodifizierten Bakterienarten (die fluoreszenzmarkiert werden können) beim Rastern unterscheiden zu können.