リアルタイム光電子分光法によるシリコン熱酸化過程の研究

实时光电子能谱研究硅热氧化过程

基本信息

  • 批准号:
    11750023
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.41万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 财政年份:
    1999
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    1999 至 2000
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

本補助金の研究で得られた新たな知見を以下に述べる。1.シリコン初期熱酸化におけるドライ酸化(酸素)とウェット酸化(水蒸気)の違い室温から300℃程度の比較的低温での酸化に関し、酸素は酸化反応を起こすのに対し、水蒸気では解離吸着した表面水素が保護膜となり酸化反応を抑制することがわかった。400℃以上の比較的高温での酸化に関しては、酸素と水蒸気で大きな違いは見られなかったが、同条件で酸化させたときの酸化速度は酸素の方が大きいことがわかった。2.原子状酸素と分子状酸素による酸化の違い酸化中のSi 2p内殻準位をリアルタイム光電子分光により測定した。表面第一層の酸化において両者に大きな差は見られなかったが、第二層以下の酸化に関しては、分子状酸素に比べ原子状酸素の方が酸化の進行が極めて大きいことがわかった。この理由は、表面第一層が酸化され表面全体が酸化膜で覆われるとこれが保護膜となり、この表面状態での分子状酸素と原子状酸素の反応性の違いが顕著となったためと考えられる。3.酸化反応の面方位依存性Si(100)とSi(111)表面とで酸化反応の面方位依存性をSi 2p内殻準位により調べた。基本的に両表面の酸化過程は同じ振る舞いを示したが、サブオキサイドの配分比率で差異が見られた。4.水素終端シリコン表面の熱酸化室温では、無終端表面に比べ水素終端表面は極めて安定で酸化されにくいことがわかった。300℃以下の領域でも水素終端表面は酸化保護膜として機能するが、時間の経過とともに酸化が進行した。水素終端構造におけるモノハイドライドとダイハイドライドの酸化抑制の程度に違いは見られなかった。
The research results of this grant are described below. 1. In the early stage of thermal acidification, acid (acid) and water vapor (water vapor) are not allowed to react at room temperature up to 300℃. In the low temperature, acid is allowed to react with acid. Water vapor is allowed to dissociate and adsorb surface water. More than 400℃, acid and water evaporation are relatively high temperature. 2. Determination of Si 2p inner shell alignment in the acidification of atomic and molecular acids by photoelectron spectroscopy The surface of the first layer of acidification, the second layer below the acidification, molecular acid, atomic acid, the side of the acidification, the first layer of acidification, the second layer of acidification, the third layer of acidification, the fourth layer of acidification. The reason is that the first layer of the surface is acidified, and the whole surface is acidified. 3. The plane orientation dependence of acidification reaction on Si(100) and Si(111) surfaces is regulated by the plane orientation dependence of acidification reaction on Si 2p inner shell alignment. The basic acidification process of the surface is different from that of the vibration, and the distribution ratio of the surface is different. 4. Water terminal surface thermal acidification room temperature, mountain end surface than water terminal surface thermal acidification Acidification protection film is formed on the surface of the terminal surface of the water element below 300℃. Acidification can be carried out during the period of time. The structure of the water terminal is not suitable for acidification inhibition.

项目成果

期刊论文数量(7)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Y.Enta: "Si 2p spectra of initial thermal oxides on Si(100) oxidized by H_2"Japanese Journal of Applied Physics. 38-1. 253-256 (1999)
Y.Enta:“H_2 氧化的 Si(100) 上初始热氧化物的 Si 2p 光谱”日本应用物理学杂志。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Y.Enta: "Si 2p spectra of initial thermal oxides on Si (100) oxidized by H_2O"Japanese Journal of Applied Physics. 38-1. 253-256 (1999)
Y.Enta:“H_2O 氧化的 Si (100) 上初始热氧化物的 Si 2p 光谱”日本应用物理学杂志。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
M.Suemitsu: "Transition from random to island mode during Si (100)-(2x1) dry oxidation and its description with autocatalytic reaction model"Applied Surface Science. 162-163. 293-298 (2000)
M.Suemitsu:“Si (100)-(2x1) 干氧化过程中从随机模式到岛模式的转变及其用自催化反应模型的描述”应用表面科学。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
M.Suemitsu: "Mode transition between growth and decomposition of oxides on Si (100) : a kinetically determined critical coverage for oxidation"Applied Physics Letters. 77. 3179-3181 (2000)
M.Suemitsu:“Si (100) 上氧化物的生长和分解之间的模式转变:动力学确定的氧化临界覆盖范围”应用物理快报。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
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  • 作者:
  • 通讯作者:
M.Suemitsu: "Initial oxidation of Si (100)-2x1 as an autocatalytic reaction"Physical Review Letters. 82. 2334-2337 (1999)
M.Suemitsu:“Si (100)-2x1 的初始氧化作为自催化反应”物理评论快报。
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  • 发表时间:
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