Rasterkraftmikroskop für hohe Temperaturen und Mikrowellen-Impedanzspektroskopie

用于高温和微波阻抗谱的原子力显微镜

• 批准号: 422066769
• 金额: --
• 依托单位: Universität Bayreuth
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2019
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2018-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/422066769?language=en
• 关键词: Rasterkraftmikroskop; hohe; Temperaturen; und; Mikrowellen

Das hier beantragte Rasterkraftmikroskop soll bestehende analytische Lücken im Bereich der Rastersondenmikroskopie an der Universität Bayreuth schließen. Dies sind zum einen schnelle, zeitaufgelöste Messungen, die gegenwärtig nicht möglich sind. Solche Messungen sind insbesondere bei Phasenübergängen in Polymersystemen oder Adsorptionsvorgängen notwendig. Weiterhin muss der verfügbare Temperaturbereich für rasterkraftmikroskopische Messungen wesentlich erweitert werden. Eine weitere Durchstimmbarkeit des Temperaturbereiches während schneller Messungen ist von großer Wichtigkeit, um beispielsweise Reorganisationsprozesse in komplexen Polymersystemen gezielt einleiten und dann die unterschiedlichen Phasen identifizieren zu können. Weiterhin sollen dielektrische Eigenschaften anhand sMIM (Scanning Microwave Impedance Microscopy oder Raster-Mikrowellen-Impedanzspektroskopie) möglich. Diese Technik (sMIM) erlaubt einen völlig neuen Ansatz bei der Untersuchung von Kompositmaterialien, Schichtsilikaten oder organischen polymeren Halbleitermaterialien.

该光栅传感器在拜罗伊特大学的光栅传感器实验室中进行了最佳分析。它们是一个小盒子，一个小盒子，它们的形状不像一个小盒子。Solche Messungen sind insbesondere bei Phasenübergängen in Polymersystemen oder Adsorptionsvorgängen notwendig. Weiterhin muss der verfügbare Temperaturbereich für rasterkraftmikroskopische Messungen wesentlich erweitert韦尔登. Eine weitere Durchstimmbarkeit des Temperaturbereiches während schneller Messungen ist von greßer Wichtigkeit，um beispielsweise Reorganisationsprozesse in komplexen Polymersystemen gezielt einleiten and dann die untermannedlichen Phasen identifizieren zu können.扫描微波阻抗显微镜（Scanning Microwave Impedance Microscopy，简称MIM）和光栅-微镜-阻抗谱仪（Raster-Mikrowellen-Impedanzspektroskopie，简称RMikrowellen-ImpedanzSpektroskopie）。该技术（sMIM）在复合材料、无机材料或有机聚合物半导体材料的研究方面，开发了一种新的固定装置。