Rasterkraftmikroskop für hohe Temperaturen und Mikrowellen-Impedanzspektroskopie

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Das hier beantragte Rasterkraftmikroskop soll bestehende analytische Lücken im Bereich der Rastersondenmikroskopie an der Universität Bayreuth schließen. Dies sind zum einen schnelle, zeitaufgelöste Messungen, die gegenwärtig nicht möglich sind. Solche Messungen sind insbesondere bei Phasenübergängen in Polymersystemen oder Adsorptionsvorgängen notwendig. Weiterhin muss der verfügbare Temperaturbereich für rasterkraftmikroskopische Messungen wesentlich erweitert werden. Eine weitere Durchstimmbarkeit des Temperaturbereiches während schneller Messungen ist von großer Wichtigkeit, um beispielsweise Reorganisationsprozesse in komplexen Polymersystemen gezielt einleiten und dann die unterschiedlichen Phasen identifizieren zu können. Weiterhin sollen dielektrische Eigenschaften anhand sMIM (Scanning Microwave Impedance Microscopy oder Raster-Mikrowellen-Impedanzspektroskopie) möglich. Diese Technik (sMIM) erlaubt einen völlig neuen Ansatz bei der Untersuchung von Kompositmaterialien, Schichtsilikaten oder organischen polymeren Halbleitermaterialien.