Rasterkraftmikroskop für hohe Temperaturen und Mikrowellen-Impedanzspektroskopie

当我们的研究对象是rastersondenkroskopie和Universität Bayreuth schließen时，我们的分析对象是behstersondenkroskopie和behreuth schließen。die sind zum einen schnelle, zeitaufgelöste Messungen, die gegenwärtig night möglich sind。Solche Messungen在Polymersystemen der Adsorptionsvorgängen not enddig中找到了inbesonere bei Phasenübergängen。Weiterhin muss der verf<s:1> gbare temperature - bereich f<e:1> r rasterkraftmikroskopische Messungen wesentlich erweitert werden。e . weitere Durchstimmbarkeit des temperature bereiches während schneller Messungen ist von großer wictigkeit, um beispielsweise Reorganisationsprozesse in complexen Polymersystemen gezielt einleen and dandie unschiedlichen Phasen identifizieren können。Weiterhin sollen dielektrische Eigenschaften anhand sMIM（扫描微波阻抗显微镜-光栅- mikrowellen - impedanzspektroskie） möglichDiese Technik (sMIM) erlauber einen völlig neuen Ansatz betersuchung von Kompositmaterialien, Schichtsilikaten，有机聚合物halbleitmaterien。

Das hier beantragte Rasterkraftmikroskop soll bestehende analytische Lücken im Bereich der Rastersondenmikroskopie an der Universität Bayreuth schließen. Dies sind zum einen schnelle, zeitaufgelöste Messungen, die gegenwärtig nicht möglich sind. Solche Messungen sind insbesondere bei Phasenübergängen in Polymersystemen oder Adsorptionsvorgängen notwendig. Weiterhin muss der verfügbare Temperaturbereich für rasterkraftmikroskopische Messungen wesentlich erweitert werden. Eine weitere Durchstimmbarkeit des Temperaturbereiches während schneller Messungen ist von großer Wichtigkeit, um beispielsweise Reorganisationsprozesse in komplexen Polymersystemen gezielt einleiten und dann die unterschiedlichen Phasen identifizieren zu können. Weiterhin sollen dielektrische Eigenschaften anhand sMIM (Scanning Microwave Impedance Microscopy oder Raster-Mikrowellen-Impedanzspektroskopie) möglich. Diese Technik (sMIM) erlaubt einen völlig neuen Ansatz bei der Untersuchung von Kompositmaterialien, Schichtsilikaten oder organischen polymeren Halbleitermaterialien.