試料回転法による有機固体用逆光電子分光装置の開発

利用样品旋转法开发有机固体逆光电子能谱

• 批准号: 05640563
• 负责人: 石井 久夫
• 金额: $ 1.34万
• 依托单位: Nagoya University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1993
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1993 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-05640563/
• 关键词: 逆光電子分光; 入射電子線損傷; 電子構造; 空準位

本研究の目的は、試料を回転させることにより入射電子線損傷を緩和し、簡便に有機固体の逆光電子スペクトルを測定できる装置を開発することである.具体的には以下のように研究を進めた.1)広島大学谷口グループの設計した逆光電子分光装置をひな型として、有機固体用に配慮し基本設計を行った。この際、入射電子線損傷を軽源するため、イ)電子銃の焦点をずらすことにより電子ビームを発散させ試料表面上での電流密度を低減する.ロ)試料基板ができるだけ光を遮らないようにする、などに留意して設計を進めた.2)装置を組み立て、金の蒸着膜を標準試料として用い、装置の調整を進めた.真空ポンプが超高真空対応でないため清浄な金表面が得られなかったので、文献のスペクトルを完全には再現できなかったが、無機固体に対してはほぼ正常に動作することを確認した.3)試料回転部を組み込み、同様の調整を行い、モーターによるシグナルへのノイズの混入を極力低減するように計測系の整備を行った.現在、入射電子線損傷に比較的耐性があるフタロシアニンを用いて、有機固体用としての調整を進めている.特に、試料膜の膜厚、試料の回転速度、入射電子線の電流密度などの各種条件の最適化を進めている.

は の purpose, this study sample を back planning さ せ る こ と に よ り を ease し incident electron line damage, simple に organic solid の backlight electronic ス ペ ク ト ル を determination で き る device を open 発 す る こ と で あ る. Under specific に は の よ う を に research into め た. 1) hiroo island university taniguchi グ ル ー プ の design し た backlight electronic spectral devices を ひ な type と し て, organic solid line with fear し に with basic design を っ た. こ の interstate, incident electron line damage を 軽 source す る た め, イ) electronic spear の focus を ず ら す こ と に よ り electronic ビ ー ム を 発 scattered さ せ sample surface で の low current density を reduction す る. ロ) sample substrate が で き る だ け light を covered ら な い よ う に す る, な ど に advertent し て design を into め た. 2) device を group み て, gold の try the steamed film を standard The material と て て is adjusted by と and the device <s:1> into めた. Vacuum ポ ン プ が ultra high vacuum 応 seaborne で な い た め qing が な gold surfaces at ら れ な か っ た の で, literature の ス ペ ク ト ル を completely に は reappearance で き な か っ た が, inorganic solid に し seaborne て は ほ ぼ normal に action す る こ と を confirm し た. 3) the sample back to the planning department を group み 込 み, with others in line の adjust を い, モ ー タ ー に よ る シ グ ナ ル へ の ノ イ Youdaoplaceholder0 <s:1> mix in を to minimize するように measurement system <s:1> preparation を line った. Now, the incident electron line damage に more patience が あ る フ タ ロ シ ア ニ ン を with い て, organic solid with と し て の adjustment を into め て い る. Optimize various conditions <e:1> such as に, the thickness of the test material film <s:1>, the return velocity of the test material <s:1> to 転, and the current density of the incident electron line <s:1> な <s:1> into めて る る る.