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反転対称性の破れに起因した時間揺らぎを見るためのレーザー分光法の開発

开发激光光谱来观察反演对称性破缺引起的时间波动

基本信息

批准号：
15654058
负责人：
田中耕一郎
金额：
$ 2.3万
依托单位：
Kyoto University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Exploratory Research
财政年份：
2003
资助国家：
日本
起止时间：
2003 至 2004
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-15654058/
关键词：
新分光法反転対称性非線形感受率量子常誘電

项目摘要

1.装置の改良平成15年度に引き続き反転対称性の破れに起因した時間揺らぎを見るためのレーザー分光法(SHG相関分光法)の改良をおこなった。干渉計の能動安定化を図ることで長時間の揺らぎを抑制することに成功し、〜10psの相関が観測可能になった。2.量子強誘電体の光照射効果量子常誘電体チタン酸ストロンチウムSrTiO_3の酸素を同位体置換したSrTi^<18>O_3やSrをCaに置換したSr_<1-x>Ca_xTiO_3の単結晶を作製して、基本的な誘電率の温度変化を測定した結果、20K付近で強誘電性を示すことがわかった。さらに、これらの結晶の紫外光照射効果を調べるために、光吸収、発光、発光減衰、光照射下の誘電率を系統的に調べた。その結果、発光や発光減衰などの基本的な光学特性には変化がないことがわかった。また、紫外線照射下の誘電率測定において、強誘電転移点が高温側にシフトすることを見いだした。これらの結果から、光励起キャリアは強誘電相関を抑制する働きがあることがわかった。反転対称性の破れに起因した時間揺らぎの観点から、この現象を見るために、紫外線照射下でSHG相関分光法の測定をおこなったが、誤差の範囲内で有為な変化は見られなかった。この可能性として、この転移をもたらしている揺らぎが非常に長い可能性が考えられる。この点を、明らかにするために、SHG散乱の時間相関測定を100ピコ秒〜10ナノ秒の範囲で測定可能な実験装置を考案した.3.軟X線レーザーをもちいた散乱実験量子常誘電体チタン酸ストロンチウムにおいて期待されている数ナノメートルサイズの反転対称性の破れたドメインを検出するために、関西原研の共同利用で低温化での軟X線スペックルを測定する装置を構築し、動作確認実験を行った。

1. The reason for the improvement of the device in 2015 was caused by the failure of the anti-symmetry. It is an improvement of the SHG spectrometry method (SHG correlation spectroscopy). The active stabilization of the interference meter has been successfully suppressed for a long time, and the correlation test of ~10ps has been possible. 2. Light irradiation effect of quantum strong dielectric Quantum normal dielectric dielectric acid ストロンチウムSrTiO_3 acid element を isotope substitution したSrTi^<18>O_3 やSrをCa に substitution The results of Sr_<1-x>Ca_xTiO_3 single crystal production, basic dielectric constant temperature change measurement, and strong dielectric properties near 20K are shown. The effect of さらに, これらのcrystal and のUV light irradiation is the べるために, the light absorption, the light, the attenuation of the light, and the dielectric rate under light irradiation.そのRESULTS, 発光や発光综合などのbasic なoptical properties には変化がないことがわかった.また、Measurement of dielectric rate under ultraviolet irradiation において、Strong dielectric transfer point high temperature side にシフトすることを见いだした.これらのRESULTS から、光 excited キャリアは Strong electromagnetic related を Suppression する働きがあることがわかった. The cause of the inverse symmetry is broken, the time is broken, and the phenomenon is caused by ultraviolet irradiation The SHG correlation spectroscopy method is used to measure the measurement results and the error is within the range.このpossibilityとして、この転movable をもたらしている揺らぎがvery long いpossibilityがtestえられる.この点を, 明らかにするために, SHG scattered time-related measurement, 100ピコsec~10ナノsec, range measurement It is possible that the device can be used as a test case. 3. Soft X-ray detectorウムにおいてLooking forward to itの无転対性の波れたドメインを検出するために、 Kansai Haraken jointly used the low-temperature soft