Microscopic structurte, electrical and optical properties of ferroelectric ultra-thin films
Microscopic structurte, electrical and optical properties of ferroelectric ultra-thin films
批准号:
11450251
负责人:
NUNOSHITA Masahiro
金额:
$9.47万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份:
1999
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1999 至 2001
中文摘要
采用新的显微测量方法对铁电超薄膜进行了生长和表征。选择适合铁电存储器件的PZT(52/48)和适合电光器件的PLZT(8/65/35)作为目标材料。采用近场光学显微镜和压电SPM技术研究了PZT和PLZT超薄膜的显微光学和铁电性能。本课题的研究成果如下:1。Pt/Ti/Si0_2表面的PZT(52/48)和PLZT(8/65/35)薄膜的晶粒尺寸和残余极化均随着薄膜厚度的增加而增大。在PZT和PLZT薄膜的SNOM图像中观察到特殊的对比。这种对比可能与铁电性有关。PZT和PLZT薄膜在Pt/Ti/Si0_2和ITO/Si0_2衬底上优选为(111)取向多晶。膜包括热解相或PbO_2萃取。另一方面,在STO(001)衬底上获得了高质量的(XRD摆动曲线FWHM小于200arcsec)(001)取向外延P(L)ZT薄膜。通过压电SPM观察,证实了P(L)ZT超薄膜中铁电性的存在。域的尺寸小于1um。然而,在超薄薄膜中观察到保留性能的恶化。从实验和理论两方面讨论了SNOM图像中观察到的伪影问题。采用多步骤沉积的方法,研制了一种阵列PZT薄膜微传感器。
英文摘要
Ferroelectric ultra-thin films were grown and characterized by means of novel microscopic measurement methods. PZT(52/48) which is suitable for ferroelectric memory devices and PLZT(8/65/35) which is suitable for electro-optic devices were chosen as the target materials. Near-field optical microscopy and piezoelectric SPM were applied to investigate microscopic optical and ferroelectric properties of the PZT and PLZT ultra-thin films. The results of the research project are as follows ;1. The both of the size of the grains and the remanent polarization of the PZT(52/48) and PLZT(8/65/35) thin films on Pt/Ti/Si0_2 increase with an increase of the film thickness.2. A specific contrast is observed in the SNOM images of the PZT and PLZT thin films. The contrast may be in relation to the ferroelectricity.3. The PZT and PLZT thin films are preferably (111)-oriented polycrystalline on Pt/Ti/Si0_2 and ITO/Si0_2 substrates. The films include pyrochbre phase or PbO_2 extraction. On the other hand, A high-quality (FWHM of XRD rocking curve is smaller than 200arcsec) (001)-oriented epitaxial P(L)ZT films are obtained on STO(001) substrates.4. By means of a piezoelectric SPM observation, the existence of ferroelectricity in P(L)ZT ultra-thin films was confirmed. The size of the domain is smaller than 1 um. However, the deterioration of the retention property was observed in ultra-thin films.5. The problem of the artifacts observed in SNOM images was discussed experimentally and theoretically.6. By means of a multi-step deposition, an arrayed PZT diaphragm micro sensor was developed.
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Xin-Shab Li et al.: "Characterization of Lead zirconate titsnate thin films deposited at low temperature by reative sputtiring"Thin Solid Films.
Xin-Shab Li 等人:“通过反应溅射在低温下沉积的锆酸铅钛酸铅薄膜的表征”固体薄膜。
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发表时间:
期刊:
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作者:
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通讯作者:
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作者:
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通讯作者:
K. Yamashita, H. Katata, M. Okuyama, H. Miyoshi, G. Kato, S. Aoyagi, Y. Suzuki: "High-Directivity Array of Ultrasonic Micro Sensor Using PZT Thin Film on Si Diaphragm"International Conference on Solid State Sensors and Actuators (Transducers 01/Euro Senso
K. Yamashita、H. Katata、M. Okuyama、H. Miyoshi、G. Kato、S. Aoyagi、Y. Suzuki:“利用硅膜片上 PZT 薄膜的超声波微传感器高方向性阵列”国际固态会议
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作者:
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通讯作者:
布下 正宏, 太田 淳, 徳田 崇: "強誘電体のナノ構造とそのメゾスコピックな特性"マテリアル インテグラーション. 5月号. 29-37 (2001)
Masahiro Nunoshita、Jun Ota、Takashi Tokuda:“铁电材料的纳米结构及其介观特性”Materials Integration 5 月号(2001 年)。
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影响因子:
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作者:
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通讯作者:
笹川 清隆, 中野 貴司, 徳田 崇, 太田 淳, 布下 正宏: "反射型近接場光学顕微鏡における偏光方向の影響"第48回応用物理学関係連合講演会 29pZX6. No.3. 1043 (2001)
Kiyotaka Sasakawa、Takashi Nakano、Takashi Tokuda、Jun Ota、Masahiro Nunoshita:“反射近场光学显微镜中偏振方向的影响”第 48 届应用物理协会会议 29pZX6 第 3 期(2001 年)。
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影响因子:
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作者:
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通讯作者:
共 36 条
Study on MBE technologies and optical properties of novel optical functional GeC/Si thin -epitaxial films and nanocrystal assemblies.
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批准号:18360010
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额:$11.21万
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财政年份:2006
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负责人:NUNOSHITA Masahiro
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依托单位:
国内基金
海外基金
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锂矿尾砂地聚合物强度PZT压电无损检测技术研究
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批准号:2025JJ80204
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项目类别:省市级项目
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资助金额:--
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批准年份:2025
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负责人:彭川
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依托单位:
压电性能媲美PZT 的可生物降解有机铁电体的化学设计
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批准号:
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项目类别:省市级项目
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资助金额:--
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批准年份:2024
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负责人:张含悦
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依托单位:
基于雕塑PZT/BST薄膜超表面的光—电协同调控太赫兹滤波器研究
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批准号:U2230111
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项目类别:联合基金项目
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资助金额:49.00万元
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批准年份:2022
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负责人:关贺元
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依托单位:
高性能PZT基压电陶瓷多参数共高机理及水声探测器件研究
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批准号:U2241243
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项目类别:联合基金项目
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资助金额:259.00万元
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批准年份:2022
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负责人:毕科
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依托单位:
BMT/PZT 异质叠层薄膜界面应变与耦合效应研究
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批准号:2021JJ40165
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项目类别:省市级项目
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资助金额:--
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批准年份:2021
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负责人:吴智
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依托单位:
温度与冲击协同作用对PZT的力电响应影响机理研究
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批准号:12172232
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项目类别:面上项目
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资助金额:62万元
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批准年份:2021
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负责人:唐恩凌
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依托单位:
力电场作用下PZT/STO/PZT薄膜中铁电泡畴的拓扑演变机制研究
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批准号:12104126
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项目类别:青年科学基金项目(C类)
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资助金额:30.0万元
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批准年份:2021
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负责人:张阳洋
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依托单位:
基于FeGa/PZT薄膜忆耦器的新型信息功能材料与原型器件的研究
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批准号:52101281
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项目类别:青年科学基金项目(C类)
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资助金额:30.0万元
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批准年份:2021
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负责人:申见昕
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依托单位:
高压调控三元系PZT基压电陶瓷相变及其机理研究
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批准号:12004300
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项目类别:青年科学基金项目
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资助金额:24.0万元
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批准年份:2020
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负责人:李敏
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依托单位:
PZT等柔性氧化物铁电薄膜及其全无机柔性电子器件的研究
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批准号:61874055
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项目类别:面上项目
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资助金额:64.0万元
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批准年份:2018
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负责人:袁国亮
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依托单位: