Study of carrier scattering mechanisms by Ge isotope and interface roughness in Ge thin films
Ge同位素和Ge薄膜界面粗糙度的载流子散射机制研究
基本信息
- 批准号:25249032
- 负责人:
- 金额:$ 29.87万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
- 财政年份:2013
- 资助国家:日本
- 起止时间:2013-04-01 至 2016-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(105)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
"Impact of YScO3 on Ge Gate Stack in Terms of EOT Reduction as Well as Interface"
“YScO3 对 Ge 栅极堆栈在 EOT 减少以及界面方面的影响”
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:C. Lu;C.H. Lee;T. Nishimura1,2;K. Nagashio and A. Toriumi
- 通讯作者:K. Nagashio and A. Toriumi
"Validity of Direct-gap Photoluminescence Analysis for Nondestructive Characterization of Oxide/Germanium Interface"
“直接间隙光致发光分析对氧化物/锗界面无损表征的有效性”
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:S. Kabuyanagi;T. Nishimura;T. Yajima;K. Nagashio;and A. Toriumi
- 通讯作者:and A. Toriumi
"Be more positive about Ge FETs"
“对 Ge FET 更加积极”
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Ryan G. Banal;Masataka Imura,1;Daiju Tsuya;Hideo Iwai;and Yasuo Koide;A. Toriumi
- 通讯作者:A. Toriumi
"Network modification of GeO2 by intermixing with trivalent oxides (Sc, Y and La)"
“通过与三价氧化物(Sc、Y 和 La)混合对 GeO2 进行网络改性”
- DOI:
- 发表时间:2013
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:鈴木崇文;呉景龍;高橋智;楊家家;李修軍;小山竜史;其格其;林正龍;郭嘉躍;C. Lu
- 通讯作者:C. Lu
「Reliability-aware Germanium Gate Stack Formation by GeO2 Network Modification」
“通过 GeO2 网络修改形成可靠性感知的锗门堆栈”
- DOI:
- 发表时间:2015
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Cimang Lu;Choong Hyun Lee;Tomonori Nishimura;Kosuke Nagashio;Akira Toriumi
- 通讯作者:Akira Toriumi
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Toriumi Akira其他文献
Nanoscale characterization techniques for ultra-thin van der Waals semiconductors based on scanning nonlinear dielectric microscopy
基于扫描非线性介电显微镜的超薄范德华半导体纳米表征技术
- DOI:
- 发表时间:
2021 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
Yajima Takeaki;Toriumi Akira;Kohei Yamasue and Yasuo Cho - 通讯作者:
Kohei Yamasue and Yasuo Cho
高速液体クロマトグラフィーを用いた金ナノクラスターの反応追跡と異種金属元素導入の影響解明
使用高效液相色谱追踪金纳米团簇的反应并阐明引入不同金属元素的影响
- DOI:
- 发表时间:
2022 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
Yajima Takeaki;Nishimura Tomonori;Tanaka Takahisa;Uchida Ken;Toriumi Akira;宮嶋小百合 池田彩華 中本真奈 HOSSAIN Sakiat 川脇徳久 根岸雄一 - 通讯作者:
宮嶋小百合 池田彩華 中本真奈 HOSSAIN Sakiat 川脇徳久 根岸雄一
Impact of GeO2 passivation layer quality on band alignment at GeO2/Ge interface studied by internal photoemission spectroscopy
通过内部光电子能谱研究 GeO2 钝化层质量对 GeO2/Ge 界面能带排列的影响
- DOI:
10.7567/apex.9.024201 - 发表时间:
2016-01 - 期刊:
- 影响因子:2.3
- 作者:
Zhang Wenfeng;Nishimura Tomonori;Toriumi Akira - 通讯作者:
Toriumi Akira
Observation of the Pinch‐Off Effect during Electrostatically Gating the Metal‐Insulator Transition
静电门控金属-绝缘体转变过程中夹断效应的观察
- DOI:
10.1002/aelm.202100842 - 发表时间:
2021 - 期刊:
- 影响因子:6.2
- 作者:
Yajima Takeaki;Toriumi Akira - 通讯作者:
Toriumi Akira
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Study of oxidation mechanisms in Ge and SiGe
Ge和SiGe的氧化机理研究
- 批准号:
16H02331 - 财政年份:2016
- 资助金额:
$ 29.87万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
相似海外基金
電気分極由来の傾斜したバンド構造により発現する強誘電体の半導体物性
铁电体的半导体特性通过电极化产生的倾斜能带结构表现出来
- 批准号:
20KK0330 - 财政年份:2021
- 资助金额:
$ 29.87万 - 项目类别:
Fund for the Promotion of Joint International Research (Fostering Joint International Research (A))
蛍光EXAFS法による半導体中の極希薄原子周辺局所構造と半導体物性の解析
利用荧光 EXAFS 方法分析半导体中超稀原子周围的局域结构和半导体物理性质
- 批准号:
12750259 - 财政年份:2000
- 资助金额:
$ 29.87万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
炭化ホウ素のCVD合成と熱電半導体物性
碳化硼的CVD合成及热电半导体性能
- 批准号:
01550589 - 财政年份:1989
- 资助金额:
$ 29.87万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
黒リン単結晶の半導体物性の実験的・理論的研究
黑磷单晶半导体性能的实验与理论研究
- 批准号:
57460018 - 财政年份:1982
- 资助金额:
$ 29.87万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
弾性表面波の半導体物性研究への応用
声表面波在半导体物性研究中的应用
- 批准号:
X00090----255007 - 财政年份:1977
- 资助金额:
$ 29.87万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
半導体物性の基礎
半导体物理特性基础
- 批准号:
X42065------4121 - 财政年份:1967
- 资助金额:
$ 29.87万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Co-operative Research
半導体物性の基礎(継2年)
半导体物理性质基础(第2年)
- 批准号:
X41065------4043 - 财政年份:1966
- 资助金额:
$ 29.87万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Co-operative Research
半導体物性の基礎
半导体物理特性基础
- 批准号:
X40065------4044 - 财政年份:1965
- 资助金额:
$ 29.87万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Co-operative Research














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