Study on Nano-in-process Measurement of Glass Surface Layer using Electron Enhanced Raman Scattering Spectroscopy (EERS) in Laser Filamentation
Study on Nano-in-process Measurement of Glass Surface Layer using Electron Enhanced Raman Scattering Spectroscopy (EERS) in Laser Filamentation
批准号:
22H01375
负责人:
高谷 裕浩
金额:
$11.07万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份:
2022
资助国家:
日本
项目状态:
未结题
起止时间:
2022-04-01 至 2025-03-31
中文摘要
近年,ガラスは広範な製造分野において新たな応用展開が進み,持続的な安全性・耐久性・信頼性が求められている.ガラス研磨工程において,最終仕上げ面に残存するナノ・クラックを極限まで低減することができれば,理論強度に迫る高強度化が可能となる.そこで本研究は,フェムト秒パルスレーザのレーザフィラメント電子増強ラマン散乱効果による超高感度化によって,ナノ・クラック先端応力場のラマン分光解析に基づいたクラック深さ推定を可能とする,新たなナノ・クラックの応力・深さ計測原理を確立する.本年度は,レーザフィラメント生成メカニズムの解明およびその制御方法を確立するため,基本光学系の設計・試作とその基本動作検証および極微弱ラマン散乱分光計測と2光子吸光励起蛍光計測の基礎実験に注力し,つぎの研究成果[1]から[3]を得た.[1]:フォトンカウンティングレベルの超高感度分光器を組み込んで極微弱光ラマン分光計測光学系を設計・試作し,さらに表面層深さの励起位置を定量的に分析するため,共焦点法による位置検出光学系を導入した.[2]:計測システムの再現性を保証するための基準試料としてダイヤモンドを選定し,ラマンスペクトル計測を遂行した.ローレンツフィッティングによってラマンスペクトルピーク値の測定精度向上を確認し,ラマンスペクトルのピーク波数および半値全幅の微小変化に基づいて,クラック生成による分子構造変化との関連性を解析するための測定システムの有効性を示した.[3]:サファイアガラスの融点は2040 ℃であるため,レーザフィラメント電子増強ラマン散乱効果(LFmEER)の特性解析用試料として適している.そこで,光学結晶として優れた光学特性を有するサファイアガラスのラマンスペクトル計測の基礎実験を遂行した.十分なSN比を確保するために,最適な測定条件を同定する必要があることを明らかにした.
英文摘要
近年,ガラスは広範な製造分野において新たな応用展開が進み,持続的な安全性・耐久性・信頼性が求められている.ガラス研磨工程において,最終仕上げ面に残存するナノ・クラックを極限まで低減することができれば,理論強度に迫る高強度化が可能となる.そこで本研究は,フェムト秒パルスレーザのレーザフィラメント電子増強ラマン散乱効果による超高感度化によって,ナノ・クラック先端応力場のラマン分光解析に基づいたクラック深さ推定を可能とする,新たなナノ・クラックの応力・深さ計測原理を確立する.本年度は,レーザフィラメント生成メカニズムの解明およびその制御方法を確立するため,基本光学系の設計・試作とその基本動作検証および極微弱ラマン散乱分光計測と2光子吸光励起蛍光計測の基礎実験に注力し,つぎの研究成果[1]から[3]を得た.[1]:フォトンカウンティングレベルの超高感度分光器を組み込んで極微弱光ラマン分光計測光学系を設計・試作し,さらに表面層深さの励起位置を定量的に分析するため,共焦点法による位置検出光学系を導入した.[2]:計測システムの再現性を保証するための基準試料としてダイヤモンドを選定し,ラマンスペクトル計測を遂行した.ローレンツフィッティングによってラマンスペクトルピーク値の測定精度向上を確認し,ラマンスペクトルのピーク波数および半値全幅の微小変化に基づいて,クラック生成による分子構造変化との関連性を解析するための測定システムの有効性を示した.[3]:サファイアガラスの融点は2040 ℃であるため,レーザフィラメント電子増強ラマン散乱効果(LFmEER)の特性解析用試料として適している.そこで,光学結晶として優れた光学特性を有するサファイアガラスのラマンスペクトル計測の基礎実験を遂行した.十分なSN比を確保するために,最適な測定条件を同定する必要があることを明らかにした.
期刊论文(2)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
レーザフィラメント電子増強ラマン分光によるガラス表面層のナノ・インプロセス計測
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批准号:23K22646
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额:$2.16万
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财政年份:2024
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负责人:高谷 裕浩
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依托单位:
The Fundamentals of Engineered Surface Metrology based on Quantum Effect of Photon Scattering
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批准号:21K18159
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项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Research (Pioneering)
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资助金额:$16.56万
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财政年份:2021
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负责人:高谷 裕浩
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依托单位:
自己組織化加工制御のためのナノ3次元構造インプロセス計測に関する基礎研究
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批准号:20656027
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项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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资助金额:$2.18万
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财政年份:2008
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负责人:高谷 裕浩
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依托单位:
フェムト秒時間分解変位計測に関する基礎研究
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批准号:18656047
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项目类别:Grant-in-Aid for Exploratory Research
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资助金额:$2.24万
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财政年份:2006
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负责人:高谷 裕浩
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依托单位:
微粒子レンズを用いた共振レーザアブレーションによる自律型ナノ加工に関する研究
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批准号:16656052
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项目类别:Grant-in-Aid for Exploratory Research
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资助金额:$2.18万
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财政年份:2004
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负责人:高谷 裕浩
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依托单位:
超精密加工表面層のマイクロクラック・インプロセス計測法に関する研究
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批准号:09750140
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$1.6万
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财政年份:1997
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负责人:高谷 裕浩
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依托单位:
ナノ3次元座標測定機のためのレーザトラップ非接触プローブに関する基礎的研究
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批准号:07750143
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.77万
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财政年份:1995
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负责人:高谷 裕浩
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依托单位:
超精密ダイヤモンド工具切れ刃の非接触先端形状計測に関する研究
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批准号:06750123
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.7万
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财政年份:1994
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负责人:高谷 裕浩
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依托单位:
位相共役光を用いた超精密3次元曲面の自動形状計測に関する研究
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批准号:05750119
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.58万
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财政年份:1993
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负责人:高谷 裕浩
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依托单位: