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パワーデバイス劣化機構の解明に向けた格子欠陥のオペランド観察技術の開発

パワーデバイス劣化機構の解明に向けた格子欠陥のオペランド観察技術の開発
开发晶格缺陷原位观察技术以阐明功率器件劣化机制
批准号：
23H01872
负责人：
姚 永昭
金额：
$12.23万
依托单位：
Japan Fine Ceramics Center
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2023
资助国家：
日本
项目状态：
未结题
起止时间：
2023-04-01 至 2027-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-23H01872/
关键词：
crystal defectdislocationpower deviceoperandoX-ray topography

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パワーデバイス劣化機構の解明に向けた格子欠陥のオペランド観察技術の開発
  • 批准号：
    23K26565
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $5.24万
  • 财政年份：
    2024
  • 负责人：
    姚 永昭
  • 依托单位：
    Japan Fine Ceramics Center
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  • 批准号：
    23K17356
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Research (Pioneering)
  • 资助金额：
    $16.56万
  • 财政年份：
    2023
  • 负责人：
    姚 永昭
  • 依托单位：
    Japan Fine Ceramics Center
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