空間サンプリングフリーなシングルピクセル干渉イメージング
空间免采样单像素干涉成像
基本信息
- 批准号:23K04614
- 负责人:
- 金额:$ 3万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份:2023
- 资助国家:日本
- 起止时间:2023-04-01 至 2026-03-31
- 项目状态:未结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
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仁田 功一其他文献
単一画素計測と信号処理による画像計測
使用单像素测量和信号处理进行图像测量
- DOI:
- 发表时间:
2018 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
井出敬佑;山田壮平;岡野和宜;安國良平;細川陽一郎;仁田 功一 - 通讯作者:
仁田 功一
PSTD法による反射型ホログラフィックメモリの角度多重記録解析
使用 PSTD 方法进行反射式全息存储器的角度多重记录分析
- DOI:
- 发表时间:
2007 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
鈴木 優顕;仁田 功一;的場 修 - 通讯作者:
的場 修
仁田 功一的其他文献
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{{ truncateString('仁田 功一', 18)}}的其他基金
光波信号処理と集積フォトニクスによる大規模量子計算システム
使用光波信号处理和集成光子学的大规模量子计算系统
- 批准号:
17760047 - 财政年份:2005
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
相似海外基金
アト秒光電子干渉計測によるレーザー場中分子の電子ダイナミクスの解明
使用阿秒光电子干涉测量阐明激光场中分子的电子动力学
- 批准号:
23K23311 - 财政年份:2024
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
位相変位点回折素子の創成による大強度大気擾乱下での1/100波長精度望遠干渉計測
通过创建相移点衍射元件,在高强度大气扰动下实现 1/100 波长精度的望远镜干涉测量
- 批准号:
23K26303 - 财政年份:2024
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
2次元干渉計測データからの高精度干渉縞復元
从二维干涉数据恢复高精度干涉条纹
- 批准号:
19J21839 - 财政年份:2019
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
ナノ構造高機能光学素子による新たな干渉計測システムの開発
使用纳米结构高性能光学元件开发新型干涉测量系统
- 批准号:
18760093 - 财政年份:2006
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
ディジタルホログラフィを用いた位相差増幅法による光干渉計測の高精度化の研究とその光学顕微鏡への応用
数字全息相位差放大提高光学干涉测量精度的研究及其在光学显微镜中的应用
- 批准号:
05F05854 - 财政年份:2005
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
3次元微細構造の干渉計測におけるトポロジー的位相に関する研究
三维微结构干涉测量中的拓扑相位研究
- 批准号:
97F00332 - 财政年份:1998
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
油の流れの局所的微小温度分布のレーザー干渉計測法の開発
油流局部微小温度分布激光干涉测量方法的发展
- 批准号:
09450078 - 财政年份:1997
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
半導体レーザ位相共役光を用いる高精度干渉計測系に関する研究
半导体激光相位共轭光高精度干涉测量系统研究
- 批准号:
07750485 - 财政年份:1995
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
半導体レーザによる干渉計測の高度化に関する研究
半导体激光器干涉测量进展研究
- 批准号:
01750124 - 财政年份:1989
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
半導体レーザーを用いた平行平面板の表・裏面形状と屈折率分布の同時干渉計測
使用半导体激光器同时干涉测量平行平板的前后表面形状和折射率分布
- 批准号:
01750029 - 财政年份:1989
- 资助金额:
$ 3万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)