权益分类	功能权益	普通用户	{{item.name}}会员
{{category.name}}	{{benefitItem.name}}

光増感反応による高分子の光電気的機能の傾斜化

光敏反应聚合物的梯度光电函数

基本信息

批准号：
08243242
负责人：
山下和男
金额：
$ 1.6万
依托单位：
Hiroshima University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
1996
资助国家：
日本
起止时间：
1996 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

光学的、電気的機能を有する導電性高分子は様々な光・電子デバイスへ応用可能な新しい機能性分子材料として注目されている。無機半導体テクノロジーの分野でそうであったように、これら有機半導体の分野においても、その新展開のために有効なp-nホモ接合技術、ポテンシャル傾斜法の開発が待望されている。このような背景のもとに本研究では金属錯体の光増感酸化・還元反応により生成する中間体の持つ強い酸化・還元力に着目し、高分子膜を酸化又は還元すると同時にアニオン又はカチオンをドープする光ド-ピング法の開発を検討した。光増感剤としてトリス(2,2'-ビピリジン)ルテニウム(II)([Ru(bpy)_3]^<2+>)を用い、酸化消光剤と還元消光剤としてペルオキソ二硫酸イオンとトリエタノールアミンを用い調べた結果、それぞれルテニウム(II)錯体の光励起種の酸化消光反応および還元消光反応により[Ru(bpy)_3]^<3+>および[Ru(bpy)_3]^+が反応中間体として生成することが確認された。これら中間体によりポリ(3-メチルチオフェン)膜の酸化アニオン(p-)ド-ピングおよびアニオンをドープしたp-ポリ(ピロール)膜の還元脱ド-ピングが可能であること、また高分子膜の面(横)方向および深さ方向にポテンシャル傾斜化ができることが明らかになった。光ド-ピング法は光技術の特徴を生かすことにより化学的あるいは電気化学的方法では困難である微細加工が可能になると期待される。さらに光ド-ピング法と電気化学的方法の長所を取り入れたポテンシャル傾斜化の方法、電位規則光ド-ピング法について検討した結果、高分子膜の深さ方向のポテンシャル傾斜化が、より容易に定量的に行えることが判明した。

Conductive polymers with optical and electrical functions may be new functional molecular materials for optical and electronic applications. The development of inorganic semiconductor technology, organic semiconductor technology and tilt technology is expected. In this paper, we discuss the development of photosensitizing acidification and redox reaction of metal complexes, the persistence of acidification and redox reaction of intermediates, and the acidification and redox reaction of polymer films. Light sensitivity (2,2'-)(II)([Ru(bpy)_3]^<2+>) The reaction of photoexcited species of the complex (II) with acid extinction and reductive extinction was confirmed by [Ru(bpy)_3]^<3+> and [Ru(bpy)_3]^+. The acidification of the intermediate (3-mer) film is possible because the polymer film faces in the horizontal direction and tilts in the vertical direction. The characteristics of optical technology are different from those of chemical technology. In addition, optical and electrochemical methods are used to determine the depth of polymer films, and the slope of polymer films is easy to quantify.