放射光薄膜X線回折法による次元制御配列金属錯体の配列構造決定

同步辐射薄膜X射线衍射法测定尺寸可控阵列金属配合物的阵列结构

• 批准号: 18033062
• 负责人: 木村 滋
• 金额: $ 2.18万
• 依托单位: Japan Synchrotron Radiation Research Institute
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 2006
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2006 至 2007
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-18033062/
• 关键词: 薄膜構造; 表面・界面物性; 金属錯体; シンクロトロン放射光

本研究の目的はSPring-8の高輝度なシンクロトロン放射光を使用し、界面に次元制御配列された金属錯体分子の構造を基板上に生成した状態のまま構造解析することにある.これにより、ポテンシャル制御空間を利用した分子素子、ナノ空間触媒等の開発の問題点を結晶構造の点から解明し、早期の問題解決に貢献することを目指した.本研究の特色は,これまで測定が困難であった基板上に次元制御配列された金属錯体分子の配列構造を基板上に形成した状態のまま構造解析することである.このような研究はSPring-8の高輝度なシンクロトロン放射光を使ってはじめて可能になるものである.この実現により、新機能の発現と配列構造との関係を明らかにできると考える.更に、この手法を発展させれば、様々な外場制御を行いながら構造解析することも可能となり、新機能素子開発に有効なデータを提供することが可能となる.上記目的のためにSPring-8 BL02B2に設置されている大型デバイ-シェラーカメラを薄膜測定ができるように改良した.具体的には、大型デバイ-シェラーカメラの試料位置に取り付け可能な薄膜アタッチメント1を新たに開発し、精密な試料センタリングが自動で行えるようにした.この開発により、薄膜の構造解析には不可欠な、微小角入射測定法、および、試料面内反射測定法による測定が高精度に行えるようになった.本装置を利用して本特定領域A04班、長谷川美貴研究グループと共同でステアリン酸-プラセオジム錯体膜に有機分子メレムを挿入した試料の構造決定に成功した.

In this study, the purpose of this study is to SPring-8 the use of radiation, the interface to control the configuration of the metal wrong-body molecules to generate the state of the substrate. In order to solve the problem in the early stage, we need to make use of the molecular element, the space catalyst and so on to make the solution of the problem. In this study, the characteristics of the substrate were determined by the analysis of the formation status of the metal wrong body molecules on the substrate. To study the high intensity of the SPring-8, the radiation will make it possible to cause the radiation. The equipment and equipment of the new machine will be equipped with the equipment to prepare the equipment. More information, more information. The purpose of this paper is to set up the SPring-8 BL02B2 configuration to improve the performance of large-scale equipment. For specific and large-scale equipment, the location of the material may be used for the first time, and the precision material will be used for automatic operation. In order to determine the accuracy of high precision measurement, thin film fabrication and analysis, micro-angle incidence measurement, micro-angle incidence measurement, in-plane reflection measurement and high-precision measurement. This device uses class A04 and Hasegawa in this specific field to determine the success of the system by using the organic molecules in the wrong body membrane to determine the success of the device.

项目成果

A New Attachment of the Large Debye-Scherrer Camera at BL02B2 of the SPring-8 for Thin Film X-ray Diffraction

用于薄膜 X 射线衍射的 SPring-8 BL02B2 上大型德拜谢乐相机的新附件

• 发表时间: 2007
• 期刊: AIP Conference Proceedings 879
• 作者: Yoshiki Kubota;Masaki Takata;Tatsuo C. Kobayashi;S. Kitagawa;Ayumi Ishii;Masaki Takata;Eiji Nishibori;Sung Wng Kim;Takatoshi Nomura;Keiichi Osaka
• 通讯作者: Keiichi Osaka

DevelopmLent of Diffraction Techniques for Dimensionally Controlled Thin Films using Synchrotron Radiation

使用同步辐射的尺寸控制薄膜衍射技术的发展

• 发表时间: 2007
• 作者: 山下正廣;北川 進編;田中晃二(分担);Samir F. El-Mashtoly;青野 重利;Hideaki Yoshimura;Hirofumi Komori;Hirofumi Komori;Eftychia Pinakoulaki;Hirofumi Komori;Eftychia Pinakoulaki;Hideaki Yoshimura;Tieqiao Zhang;下川 千寿;中島 洋;Shigetoshi Aono;吉岡 資郎;Shigetoshi Aono;西村 宗十;下川 千寿;青野 重利;Shigetoshi Aono;Muneto Nishimura;Ayumi Ishii;Chizu Shimokawa;Keiichi Osaka;Shigeru Kimura
• 通讯作者: Shigeru Kimura

Novel emission properties of melem caused by the heavy metal effect of lanthanides(III) in a LB film

• DOI: 10.1039/b703751c
• 发表时间: 2007-01-01
• 期刊: PHOTOCHEMICAL & PHOTOBIOLOGICAL SCIENCES
• 影响因子: 3.1
• 作者: Ishii, Ayumi;Habu, Koji;Shigesato, Yuzo
• 通讯作者: Shigesato, Yuzo