ナノリンク分子の高バイアス不安定性の研究

纳米链分子高偏压不稳定性研究

基本信息

  • 批准号:
    18041008
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.62万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 财政年份:
    2006
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2006 至 2007
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

本研究は1個の分子を金属電極間に架橋させた「ナノリンク分子」を形成し,その高バイアス/高電流下における不安定化現象を実験的に考究するとともに,破断電圧/電流のデータベースを構築することを目的としている.平成19年度は18年度に行ったベンゼンジチオール(BDT)単分子架橋の実験をビピリジン(BPY)に拡張し,コンダクタンスやI-V特性,および破断,に関して以下の成果を得た.1.室温でMCBJの金電極にBPY単分子を架橋し,そのコンダクタンス測定を行った.BPYはBDTよりも安定な架橋を得る頻度が少なく,コンダクタンスヒストグラムもそれほど明瞭なピークを示さない.0.01GO付近にブロードなピークが観測され,この値は従来報告されているBPY単分子のコンダクタンスの実験値とほぼ一致していることから,この0.01GO状態がBPY単分子の架橋状態に対応していると推定される.2.接合が0.01GO状態に達した時に,接合状態を保持したままバイス電圧をスイープしてI-V測定を行った.I-V曲線はBDTのI-V曲線とは少し形状が異なり,3次関数では記述できない.またBDTの0.01GO状態の場合よりも低い電圧で電流が立ち上がる傾向を示している.3.首都大学東京の杉浦先生から試料を提供いただいて,数種類のポルフィリン分子のコンダクタンス測定を行った.コンダクタンスプラトーは時折観測されるもののヒストグラムに明瞭なピークを示すことはない.しかし(0.005〜0.02)GOの範囲に小さな構造が観察され,単分子コンダクタンスに対応している可能性がある.
This study focuses on the formation of a molecular metal electron interframe device and the formation of a high-temperature

项目成果

期刊论文数量(13)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
High-Bias Break of Sn Nanocontacts
Sn 纳米触点的高偏压断裂
  • DOI:
  • 发表时间:
    2007
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M. Suzuki;他;K. Ohno;柳澤伸明・山田英治・西岡昭博・香田智則・池田進;Toru Kawakubo
  • 通讯作者:
    Toru Kawakubo
AC impedance of multi-walled carbon nanotubes
多壁碳纳米管的交流阻抗
Bias-induced local heating in Au atom-sized contacts
  • DOI:
    10.1088/0957-4484/17/21/008
  • 发表时间:
    2006-11
  • 期刊:
  • 影响因子:
    3.5
  • 作者:
    M. Tsutsui;S. Kurokawa;A. Sakai
  • 通讯作者:
    M. Tsutsui;S. Kurokawa;A. Sakai
Au/BDT/Au単分子接合の高バイアス破断
Au/BDT/Au单分子结的高偏压断裂
  • DOI:
  • 发表时间:
    2007
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M. Suzuki;他;酒井 明
  • 通讯作者:
    酒井 明
Electrical breakdown of short multiwalled carbon nanotubes
  • DOI:
    10.1063/1.2364048
  • 发表时间:
    2006-11
  • 期刊:
  • 影响因子:
    3.2
  • 作者:
    M. Tsutsui;Yu-ki Taninouchi;S. Kurokawa;A. Sakai
  • 通讯作者:
    M. Tsutsui;Yu-ki Taninouchi;S. Kurokawa;A. Sakai
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  • 通讯作者:
    酒井 明
Au 1G0接点の電流誘起破断
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