Mikroskopische Charakterisierung komplexer Gruppe III-Nitridstrukturen mit Kathodolumineszenz und Ramanspektroskopie: Korrelation von strukturellen, elektronischen und optischen Eigenschaften

使用阴极发光和拉曼光谱对复杂的 III 族氮化物结构进行微观表征:结构、电子和光学特性的相关性

基本信息

项目摘要

Aufgrund unserer umfangreichen Vorarbeiten können wir für die an diesem Schwerpunktprogramm beteiligten Probenhersteller ortsaufgelöste Raman- und Kathodolumineszenz-Messungen zur Charakterisierung ihrer Proben durchführen und ihnen so quantitative Informationen über die oben genannten Materialparameter bereitstellen. Die bereits bewährte enge Zusammenarbeit und Rückkopplung mit den Probenherstellern und den Theoriegruppen ist für das Projekt von grundlegender Bedeutung. Ein Schwerpunkt dieses Projektes befaßt sich mit der mikroskopischen Untersuchung und Charakterisierung selektiv gewachsener Proben. Hauptmotivation hierfür ist die drastische Herabsetzung der Versetzungsdichte im Material, welches eine entscheidende Voraussetzung für die Langlebigkeit optischer Bauelemente ist. Hier können wir unsere Erfahrungen auf dem Gebiet der Mikro-Charakterisierung von epitaktisch lateral überwachsenen GaNProben und selektiv gewachsenen Pyramiden einbringen.
在此基础上,我们通过一个Schwerpunktprogramm beteligten Probenhersteller或拉曼-和Kathodolumineszenz-Messungen测试仪,对通过测量得到的材料参数进行了定量分析。Die bereits bewährte enge Zusammenarbeit und Rückkopplung mit den Probenherstellern und den Theoriegruppen ist fr das Projekt von grundlegender Bedeutung.一个Schwerpunkt这个项目是通过mikroskopischen Untersuchung和Charakterisierung selektiv gewachsener Proben进行的。Hauptmotivation hierfür ist die drastische Herabsetzung der Versetzungssette im Material,welches eine entscheidende Voraussetzung für die Langlebigkeit optischer Bauelemente ist.在此,我们将在GaNProben和Selektiv gewachsenen Pyramiden einbringen的外延横向微特性的基础上进行实验。

项目成果

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