Mikroskopische Charakterisierung komplexer Gruppe III-Nitridstrukturen mit Kathodolumineszenz und Ramanspektroskopie: Korrelation von strukturellen, elektronischen und optischen Eigenschaften

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Aufgrund unserer umfangreichen Vorarbeiten können wir für die an diesem Schwerpunktprogramm beteiligten Probenhersteller ortsaufgelöste Raman- und Kathodolumineszenz-Messungen zur Charakterisierung ihrer Proben durchführen und ihnen so quantitative Informationen über die oben genannten Materialparameter bereitstellen. Die bereits bewährte enge Zusammenarbeit und Rückkopplung mit den Probenherstellern und den Theoriegruppen ist für das Projekt von grundlegender Bedeutung. Ein Schwerpunkt dieses Projektes befaßt sich mit der mikroskopischen Untersuchung und Charakterisierung selektiv gewachsener Proben. Hauptmotivation hierfür ist die drastische Herabsetzung der Versetzungsdichte im Material, welches eine entscheidende Voraussetzung für die Langlebigkeit optischer Bauelemente ist. Hier können wir unsere Erfahrungen auf dem Gebiet der Mikro-Charakterisierung von epitaktisch lateral überwachsenen GaNProben und selektiv gewachsenen Pyramiden einbringen.