Untersuchungen zur Bildung von MCs+-Molekülionen beim Ionenbeschuß cäsiumbedeckter Festkörperoberflächen

我们从化学的角度分析了方法论和分析方法，这是一种科学的分析方法，它是一种科学的方法。在Velen Fällen Stak von Deren Chemischer Umgebung and der Oberfläche ABHängt中，Nachweiswahrscheinlichkeit der zerstäubten Teilchen的Nachweiswahrscheinlichkeit der zerstäubten Teilchen中的Nachteile des Sims-Verfahrens besteht Darin，daúdie Ionisations-and Damit Nachweiswahrscheinlichkeit der zstäubten Teilchen。这是一种新的技术和技术，它是一种新的技术和技术。ALS Ursache für Dieses Verhalten wurde in der Docatur ein Modelell zur Bildung der MC+-Ionen vorgeschlagen，das auf der Kombination eines gesputterten Neualen Air s M MIT einem rückzerstäubten Cs+-Sekundärion beruht.我们的试验者Nachweis Dester Moellvor stellung是一种特殊的过敏症。在DEM geplen en Vorhaben soll die Bildung der von cäsiumbedeckten Oberflächen zerstäubten MCS+-Ionen system atich untersuthht den，INDEM neben den von der Oberfläche emittierten sekundärionen erstmals aous die in sprechenden NeighalteilchenflüSSE bstimt en dem en von cäsiumbedeckten Oberfläubten MCS+-Ionen system atich untersuuthht den，indeem neben den von de Oberfläche emittierten sekundärionen erstmals等。

Einer der wesentlichen methodischen Ansätze zur Analytik der chemischen Zusammensetzung an Festkörperoberflächen ist die Sekundärionen-Massenspektrometrie, in der die nachzuweisende Spezies durch Ionenbeschuß in die Gasphase überführt und anschließend massenspektrometrisch detektiert wird. Einer der entscheidenden Nachteile des SIMS-Verfahrens besteht darin, daß die Ionisations- und damit Nachweiswahrscheinlichkeit der zerstäubten Teilchen in vielen Fällen stark von deren chemischer Umgebung an der Oberfläche abhängt. Eine drastische Reduktion dieses Matrixeffekts ergibt sich, wenn die zu untersuchende Oberfläche mit Cäsiumionen beschossen und anstelle der atomaren Sekundärionen M+ Molekülionen vom Typ MCs+ registriert werden. Als Ursache für dieses Verhalten wurde in der Literatur ein Modell zur Bildung der MCs+-Ionen vorgeschlagen, das auf der Kombination eines gesputterten neutralen Atoms M mit einem rückzerstäubten Cs+-Sekundärion beruht. Ein eindeutiger experimenteller Nachweis dieser Modellvorstellung steht bislang allerdings noch aus. In dem geplanten Vorhaben soll die Bildung der von cäsiumbedeckten Oberflächen zerstäubten MCs+-Ionen systematisch untersucht werden, indem neben den von der Oberfläche emittierten Sekundärionen erstmals auch die entsprechenden Neutralteilchenflüsse bestimmt werden.