ゆらぎ法による高計数率放射線測定器の開発

波动法高计数率辐射测量装置的研制

• 批准号: 62550023
• 负责人: 長谷川 賢一
• 金额: $ 1.22万
• 依托单位: The University of Tokyo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1987
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1987 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-62550023/
• 关键词: 計数法; X線; γ線; 放射線計測

研究目的 放射光の利用のような強力なZ線フラックスを用いると, 短時間測定ができる. これにはダイナミックレンジの広い高計数放射線測定器が必要である. われわれが先に開発したゆらぎ検出法とパルス計数法を結合するマルチレベルカウンティングをこの分野の測定器に応用すると, 高計数率特性が得られ, 測定対象の拡大, 精度の向上が期待できる. また, γ線を対象とするワイドレンジ線量計にも応用可能である.1)中性子核計装でのマルチレベルカウンティング法の有用性のチェック. 東大中性子源炉弥生を用いて, 核分裂計数管の出力の16チャネルディスクリミネータでの信号処理出力と炉出力との関係を求めたところ, パルス計数範囲の上限から3桁上まで, 比例性が得られた. ただし, ゆらぎ領域とパルス領域の接続のためには, 補正が必要で, 現在検討中である.2)X線計数東大工学部の強力X線発生装置からの8KeVのZ線のをNaIシンチレーション検出器に入れ, 整形回路の微分, 積分時定数100nsで測定した結果, パルス計数の上限5×10^5ppsに対して5×10^6ppsまで, 直線性が得られた. パルス計数の上限はNaIシンチレータの減衰時定数230nsと整形時定数により決定される. また高計数率領域での特性は, 入力X線フラックスの設定誤差も含むので, 今後の放射光X線での実験により, さらにワイドレンジ化の可能性を求めることができよう.3)γ線による実験^<137>Csで同様の実験を行ない, 2×10^6ppsまでの直線性を確認した.4)計算機シミュレーション計数特性の波高分布依存性を計算したが, 実験結果とよい一致を示している.

The purpose of the study is to radiate light by <s:1> using ような strong なZ line フラッ スを using ると ると Short time measurement が で き る. こ れ に は ダ イ ナ ミ ッ ク レ ン ジ の hiroo い radiation meter high count が necessary で あ る. わ れ わ れ が に first 発 し た ゆ ら ぎ 検 out method と パ ル ス counting method combining を す る マ ル チ レ ベ ル カ ウ ン テ ィ ン グ を こ の eset の tester に 応 with す る と, high count rate characteristics が ら れ, Determination as seaborne の company, big, precision の upward が expect で き る. ま た, gamma line を like と seaborne す る ワ イ ド レ ン ジ line meter に も 応 may use で あ る. 1) temper trade pack で の マ ル チ レ ベ ル カ ウ ン テ ィ ン グ method の usefulness の チ ェ ッ ク. Dongda temper in source furnace yayoi を with い て, fission counter の output の 16 チ ャ ネ ル デ ィ ス ク リ ミ ネ ー タ で の 処 reason efforts と furnace output signal と の masato is め を o た と こ ろ, パ ル ス count van 囲 の ceiling か ら 3 on the girder ま で, proportionality が must ら れ た. た だ し, ゆ ら ぎ field と パ ル の ス field meet 続 の た め に は, Beg in now and correct, が necessary で 検 で あ る. 2) X-ray count east master division の powerful X-ray 発 raw devices か ら の 8 kev の Z line の を NaI シ ン チ レ ー シ ョ ン 検 extractor に れ, plastic loop の differential, integral number 100 ns で determination し た results, パ ル ス count の cap of 5 x 10 ^ 5 PPS に し seaborne て 5 x 10 ^ 6 PPS ま で, linearity が have ら れ た. パ ル の ス count limit は NaI シ ン チ レ ー タ の damping when the number of 230 ns と plastic when destiny に よ り decided さ れ る. ま た high count rate field で は の properties, X-ray into force フ ラ ッ ク ス の setting error も containing む の で, future の X-ray radiation light で の be 験 に よ り, さ ら に ワ イ ド レ ン patches.by ジ の possibility を め る こ と が で き よ う. 3) gamma line に よ る be 験 ^ < 137 > Cs で with others の be 験 を line な い, 2 x 10 ^ 6 PPS ま で の linearity を confirm し た. 4) computer シ ミ ュ レ ー シ ョ ン count feature の wave height distribution dependence を computing し た が, be 験 results と よ い consistent を shown し て い る.

项目成果

長谷川賢一,小橋秀一,持木幸一,高橋浩之: 東京大学工学部紀要A. 25. 44-45 (1987)

Kenichi Hasekawa、Shuichi Kobashi、Koichi Mochiki、Hiroyuki Takahashi：东京大学工学部通报 A. 25. 44-45 (1987)