シリコン半導体検出器による粒子多重度測定の可能性

本研究は、シリコン半導体検出器の、細かく比較的自由な読み出しが可能な点を利用して、高エネルギ-重イオン衡突反応で生ずる数百〜数千におよぶ生成荷電粒子数(粒子多重度)を測定することに応用する可能性を調べるものである。前年度までに、半導体検出器として、ストリップ型の読み出しパタ-ンを持ち、有効領域48ミク角、ストリップ間隔125μのもの(浜松ホトニクス社製)を採用し、また、信号読み出しのための低雑音前置増巾器を選定して、この検出器からの信号読み出しテストを開始した。今年度は、前年度にひき続いて、検出器からの読み出しテストを行なった。デ-タ収集および解析のために、パ-ソナルコンピュ-タとCAMACを用いたデ-タ収集システムを用意し、そのデ-タ収集・解析用ソフトウェアを整備した。また、信号読み出しのための、波形整形回路を作製し、S/N向上のための最適化をおこなった。放射線源でのテストを行うため、トリガ-用の小型シンチレ-ションカウンタ-を作成した.これらを用いて、シリコン検出器から、連続する16本のストリップについて同時に信号を読み出し、パ-ソナルコンピュ-タでそのデ-タを記録、解析した。ADCで測定した波高分布から、MINIMUM IONIZATION粒子に対して、雑音信号のRMS値の十数倍の波高値が得られている。現在、測定をつづけながら、結果のまとめを行なっている。

本研究は、シリコン半導体検出器の、細かく比較的自由な読み出しが可能な点を利用して、高エネルギ-重イオン衡突反応で生ずる数百〜数千におよぶ生成荷電粒子数(粒子多重度)を測定することに応用する可能性を調べるものである。前年度までに、半導体検出器として、ストリップ型の読み出しパタ-ンを持ち、有効領域48ミク角、ストリップ間隔125μのもの(浜松ホトニクス社製)を採用し、また、信号読み出しのための低雑音前置増巾器を選定して、この検出器からの信号読み出しテストを開始した。今年度は、前年度にひき続いて、検出器からの読み出しテストを行なった。デ-タ収集および解析のために、パ-ソナルコンピュ-タとCAMACを用いたデ-タ収集システムを用意し、そのデ-タ収集・解析用ソフトウェアを整備した。また、信号読み出しのための、波形整形回路を作製し、S/N向上のための最適化をおこなった。放射線源でのテストを行うため、トリガ-用の小型シンチレ-ションカウンタ-を作成した.これらを用いて、シリコン検出器から、連続する16本のストリップについて同時に信号を読み出し、パ-ソナルコンピュ-タでそのデ-タを記録、解析した。ADCで測定した波高分布から、MINIMUM IONIZATION粒子に対して、雑音信号のRMS値の十数倍の波高値が得られている。現在、測定をつづけながら、結果のまとめを行なっている。