X線小角散乱法による溶液内化学種の構造解析

使用小角 X 射线散射法分析溶液中化学物质的结构

• 批准号: 01540524
• 负责人: 脇田 久伸
• 金额: $ 1.15万
• 依托单位: Fukuoka University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1989
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1989 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-01540524/
• 关键词: 溶液内化学種; 微視的構造解析; X線小角散乱; 遷移金属元素錯体

本研究では、本学の高輝度X線発生装置を用い、本研究費で2軸X線小角散乱装置を製作購入し、(1)X線小角散乱法による溶液内化学種の構造解析法を確立する(2)本研究室において微視的構造解析をおこなった第一遷移元素のハロゲン化物溶液等を用い、X線小角散乱測定を行い、溶液内化学種のlong range orderの構造を決定する(3)(2)の結果と報告されている化学反応パラメ-タや物理化学諸量との相関を明らかにすることを目的とした。このため(1)微小角入射のX線小角散乱測定システムを製作した。イ、高温高圧下でも測定出来るようにセル回りを改造した2軸小角散乱装置を設計、製作、購入した。ロ、イの装置と本学の高輝度X線発生装置、パソコン及び高温高圧セルを用いて高温高圧下でもX線小角散乱測定が出来るシステムを構築した。ハ、得られた測定デ-タから構造解析を行うプログラムを既有の溶液X線回折用プログラムを改造して作成した。(2)いくつかの測定試料溶液を調整し、X線小角散乱測定を行った。測定試料溶液としては主として遷移金属元素錯体溶液等を用いた。(3)(2)のデ-タを(1)のハのプログラムで解析した。(4)(3)の結果を従来の結果と併せて測定溶液の化学反応パラメ-タや物理化学的諸物性との相関を明らかにしつつある。この計画を実施するために要した経費を次に記す。(1)X線小角散乱測定システムの製作 イ、2軸X線小角散乱装置の設計、製作、調整打ち合わせ及び購入・・・設備備品費、経費、その他(通信費)ロ、X線小角散乱測定システムの構築・・・校費 ハ、解析プログラムの作成・・校費(2)溶液調整と測定・・・試薬の購入と化合物合成・・・消耗品費(3)デ-タの解析・・・謝金(4)解析結果の検討・・試料収集・・・その他(通信費)

In this study, the high-temperature X-ray equipment is used, the 2-line small-angle scatter device is used as input, (1) the X-ray small-angle dispersion method is used to determine the chemical species in the solution, (2) the laboratory is used to analyze the chemical species in the solution, and (2) the laboratory is used to analyze and analyze the first moving element, the chemical compound solution, etc., X-ray small-angle dispersion test, X-ray small-angle dispersion test, The determination of chemical long range order in the solution (3) (2) the results of the report show that the chemical reaction is different from the physical and chemical properties. Small angle incidence (1) small angle X line small angle scatter measurement. High temperature, high temperature and high temperature. In this study, the high temperature X-ray sanitary equipment, the high temperature high temperature equipment and the high temperature high temperature equipment are used to measure the small angle scatter of the X line under the high temperature and high temperature. The X line of the existing solution is converted to the X line of the solution and modified to make it into a solution. (2) to determine the accuracy of the material solution and the small angle scatter of the X-ray. Determine the material solution, the main material solution, the metal element, the wrong body solution and so on. (3) (2)-- (1) I don't know what to do. (4) (3) the results show that the physical and chemical properties of the solution are determined by the determination of the physical properties of the solution. If you plan to do so, you will have to write down every time. (1) X-ray small-angle scatter measurement system, 2-inch X-ray small-angle scatter device design, 2-inch X-ray small-angle scatter device design, 2-inch X-ray small-angle scatter device design, 2-inch X-ray small-angle scatter device design, 2-inch X-ray small-angle scatter test, 2-inch X-ray small-angle scatter test, Analysis and calibration (2) determination of synthetic consumables of compounds (3)-analysis of gold (4) results of chemical analysis (communication)

项目成果

脇田久伸: "微小角入射X線回折装置の試作" 福岡大学理学集報. 21. (1990)

胁田恒信：“小角度入射X射线衍射装置的原型”福冈大学科学通报21。（1990）

H.Ohtaki(大瀧仁志): "Structure and Dynamics of Solutions" Elsevier, 300 (1990)

H.Ohtaki：“解决方案的结构和动力学”Elsevier，300 (1990)

S.Yamashita(山下誠一): "A Structural Study of a Series of Bis(2,3ーalkanedione dioximato)nickel(II)Complexes in the Crystal and the Liquid States by XーRay Absorption Spectroscopy" Bulletin of the Chemical Society of Japan. 62. 2902-2907 (1989)

S. Yamashita（Seiichi Yamashita）：“通过 X 射线吸收光谱法对晶体和液体状态下的一系列 Bis(2,3ーalkanedione dioximato)nickel(II) Complexes 进行结构研究”化学会通报日本。62。2902-2907（1989）