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Untersuchung und Nutzung des verzerrungs-induzierten Ladungsträgereinschlusses in lateral strukturierten III/V-Halbleiterschichtstrukturen für optische Bauelemente

Untersuchung und Nutzung des verzerrungs-induzierten Ladungsträgereinschlusses in lateral strukturierten III/V-Halbleiterschichtstrukturen für optische Bauelemente
光学元件横向结构 III/V 半导体层结构中变形引起的载流子限制的研究和使用
批准号:
5238716
负责人:
Professor Dr. Ullrich Pietsch
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2000
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1999-12-31 至 2004-12-31

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项目成果

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Das Ziel des Projektes ist die Präparation und Untersuchung von Halbleiterschichtstrukturen mit einer lateral-periodischen Modulation der Gitterverzerrung, die zu einer lateral-periodischen Modulation der Bandstruktur eines Quantenfilms führt.Konzeptionell soll dabei der Verzerrungszustand eines verspannten InxGa1-xAs-Quantenfilms (SQW mit x~0.14) durch einen lateral strukturierten 'periodischen Stressor', zum Beispiel durch eine verspannte Deckschicht aus InxGa1-xP, moduliert werden. Die infolge der Gitterrelaxation induzierten langreichweitigen Verzerrungfelder sollen auf den nicht strukturierten InGaAs-SQW durchgreifen und dort eine laterale Variation der Bandkanten induzieren, die zu veränderten optischen Eigenschaften führt. Durch Variation von x in der InxGa1-xP-Schicht mit einem anderen Material weiter modizieren. die räumliche Verteilung der realisierten Verzerrungsmodulation sowie die laterale Modulation der optischen Eigenschaften sollen durch hochauflösende Röntgenbeugung und Mikro-Photolumineszenz bei Helium- und Raumtemperatur nachgewiesen werden. Die Auswirkungen des Strainengineerings sollen mit theoretischen Vorhersagen aus FiniteElemente-Rechnungen verglichen werden. Die gewonnenen Erkenntnisse sollen bei der Herstellung von BreitstreifenLaserdioden umgesetzt werden, um deren Emissionseigenschaften zu verbessern.
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会议论文
Electrical and Structural characterization of single core-shell semiconductor nanowires
  • 批准号:
    413135326
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2018
  • 负责人:
    Professor Dr. Ullrich Pietsch
  • 依托单位:
Charakterisierung der ionenstrahlinduzierten Eigendefekt- und Metallionenverteilung in Silizium und deren Einfluss auf die Musterbildung
  • 批准号:
    182065970
  • 项目类别:
    Research Units
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2010
  • 负责人:
    Professor Dr. Ullrich Pietsch
  • 依托单位:
p-halbleitende teilkristalline und amorphe Schichten für organische Feldeffekttransistoren
  • 批准号:
    5450171
  • 项目类别:
    Priority Programmes
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2005
  • 负责人:
    Professor Dr. Ullrich Pietsch
  • 依托单位:
海外基金