Modernisierung einer SCIENTA SES200-Anlage zur "Hochauflösende Photoelektronenspektroskopie"

用于“高分辨率光电子能谱”的 SCIENTA SES200 系统的现代化

• 批准号: 5244798
• 负责人: Professor Dr. Friedrich Reinert
• 金额: --
• 依托单位: Lehrstuhl für Experimentelle Physik VII
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 1995
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1994-12-31 至 2008-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5244798?language=en
• 关键词: Modernisierung; einer; SCIENTA; SES200; Anlage

zu Hu 149/19-1:Die Photoelektronenspektroskopie (und ihre Umkehrung, die Inverse Photoelektronenspektroskopie) mit Anregung durch Röntgenstrahlung und UV-Strahlung ist heute ein wichtiges Hilfsmittel zur Untersuchung der elektronischen Struktur von Festkörpern und deren Oberflächen, sowie den Adsorbaten auf Oberflächen. Diese Technik hat in den letzten Jahren zusätzliche Attraktivität dadurch gewonnen, daß es jetzt möglich ist, eine Ortsauflösung von 10 µm zu erreichen, so daß man sehr kleine Systeme untersuchen kann, zum anderen aber die laterale Variation der Zusammensetzung einer größeren Fläche der Untersuchung zugänglich sind (in Clausthal in der Gruppe von Prof. Bauer entwickelte Geräte haben inzwischen eine noch wesentlich bessere Ortsauflösung erreicht). Daneben ist mit der Entwicklung der Photoelektronendiffraktion ein Handwerkszeug zur Bestimmung der geometrischen Struktur mit Hilfe dieser Technik entstanden, das gleichberechtigt neben der etablierten LEED-Methode eingesetzt werden kann. Dadurch, daß die Photoemission elementspezifisch und bei guter Energieauflösung durch Ausnutzen von "chemical core level shifts" zusätzliche Informationen über die Elementverteilung liefern kann, hat die Photoelektronendiffraktion gegenüber anderen strukturaufklärenden Methoden spezielle Vorteile.Im vorliegenden Antrag wird ein Photoelektronenspektrometer mit Anregung im UV und im Röntgenbereich beantragt, das es gestattet, mit bisher nicht üblicher Energieauflösung (UPS: ~5meV; XPS: ~300meV) und Ortsauflösung (~7µ) direkte spektroskopische Messungen, aber auch solche der Elektronendiffraktion durchzuführen.

祖胡149/19-1:Die Photoelektronenspektroskopie (und ihre umkehung, Die Inverse Photoelektronenspektroskopie) mit Anregung durch Röntgenstrahlung and UV-Strahlung ist heute ein wichtiges Hilfsmittel zur Untersuchung der elektronischen Struktur von Festkörpern and deren Oberflächen, sowie den auf Oberflächen。Diese Technik in den letzten Jahren zusätzliche Attraktivität dadurch gewonnen, dases jetzt möglich ist, eine Ortsauflösung von 10 μ m zu erreichen, so dasß man sehr kleine Systeme untersuchen kann, zum anderen aber die laterale Variation der Zusammensetzung einer größeren Fläche der Untersuchung zugänglich sind （in Clausthal in der Gruppe von Bauer教授entwickelte Geräte haben inzwischen eine noch wesentlich bessere Ortsauflösung erreicht）。在Handwerkszeug zur中，在光电子衍射中，在几何上，在结构上，在光学技术上，在leed中，在光电衍射中，在leed中，在光电衍射中，在leed中，在光电衍射中，在leed中，在光电衍射中，在leed中，在光电衍射中。Dadurch, daß die Photoemission elementspezifisch und bei guter Energieauflösung durch Ausnutzen von "chemical core level shifts" zusätzliche Informationen ber die elementverilung liefern kann, die photoelektronendiffraction gegen <e:1> ber anderen strukturaufklärenden Methoden spezielle Vorteile。Im vorliegenden Antrag wind in photoelektronenspectrometer mitanregung Im UV und Im Röntgenbereich beantragt, das es gestattet, mitbisher nicht <e:1> blicher Energieauflösung (UPS: ~5meV; XPS: ~300meV) and Ortsauflösung（~7µ）direcrekte spektroskopische Messungen, aberauch solche der elektronendiffraction durchzufhren。