Modernisierung einer SCIENTA SES200-Anlage zur "Hochauflösende Photoelektronenspektroskopie"

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zu Hu 149/19-1:Die Photoelektronenspektroskopie (und ihre Umkehrung, die Inverse Photoelektronenspektroskopie) mit Anregung durch Röntgenstrahlung und UV-Strahlung ist heute ein wichtiges Hilfsmittel zur Untersuchung der elektronischen Struktur von Festkörpern und deren Oberflächen, sowie den Adsorbaten auf Oberflächen. Diese Technik hat in den letzten Jahren zusätzliche Attraktivität dadurch gewonnen, daß es jetzt möglich ist, eine Ortsauflösung von 10 µm zu erreichen, so daß man sehr kleine Systeme untersuchen kann, zum anderen aber die laterale Variation der Zusammensetzung einer größeren Fläche der Untersuchung zugänglich sind (in Clausthal in der Gruppe von Prof. Bauer entwickelte Geräte haben inzwischen eine noch wesentlich bessere Ortsauflösung erreicht). Daneben ist mit der Entwicklung der Photoelektronendiffraktion ein Handwerkszeug zur Bestimmung der geometrischen Struktur mit Hilfe dieser Technik entstanden, das gleichberechtigt neben der etablierten LEED-Methode eingesetzt werden kann. Dadurch, daß die Photoemission elementspezifisch und bei guter Energieauflösung durch Ausnutzen von "chemical core level shifts" zusätzliche Informationen über die Elementverteilung liefern kann, hat die Photoelektronendiffraktion gegenüber anderen strukturaufklärenden Methoden spezielle Vorteile.Im vorliegenden Antrag wird ein Photoelektronenspektrometer mit Anregung im UV und im Röntgenbereich beantragt, das es gestattet, mit bisher nicht üblicher Energieauflösung (UPS: ~5meV; XPS: ~300meV) und Ortsauflösung (~7µ) direkte spektroskopische Messungen, aber auch solche der Elektronendiffraktion durchzuführen.