コヒーレント収束電子回折法による結晶構造因子の位相決定法の研究と強誘電体への応用

相干会聚电子衍射晶体结构因素相测定方法及其在铁电材料中的应用研究

• 批准号: 05740193
• 负责人: 寺内 正己
• 金额: $ 0.64万
• 依托单位: Tohoku University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• 财政年份: 1993
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1993 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-05740193/
• 关键词: 収束電子回折; コヒーレンス; 干渉縞; 位相; 結晶構造因子

(CBED)(Sr_2Ta_2O_7,Sr_2Nb_2O_7,FeS_2,Mo_8O_<23>,6H-SiC)および積層欠陥(6H-SiC,AlN)の観察を行い、以下の結果を得た。1.結晶が鏡映面をもつ場合は、コヒーレントCBED図形中の干渉縞の位置は鏡映対称を示す。一方、鏡映面がない場合は、注目する回折波によって干渉縞の位置が対称的であったり対称的でなかったりしており回折図形全体としては鏡映対称を示さない。結晶の映進面を持つ場合は、干渉縞が半周期ずれる。このように、結晶構造因子の位相の対称性がコヒーレントCBED図形中の干渉縞の位置関係として現れることを明らかにした。さらに、世界最小の0.27nmの格子面間隔からコヒーレントCBED図形を得ることに成功した。これらの研究成果を、1993年夏に北京で開催された第16回国際結晶学連合会会議(IUCrXVI)で発表した。2.コヒーレントCBED法の応用として積層欠陥の観察を行い、積層欠陥に対応した領域の干渉縞は完全結晶の領域の干渉縞に比べてずれていることを見いだした。この干渉縞のずれは、積層欠陥面での結晶周期の不連続性(位相のずれ)に対応していることを明らかにした。このことはコヒーレントCBED法を用いると、これまでの回折強度ではなく位相という新しい観点から格子欠陥研究が行えることを示している。今回、この科研費で試料のダメ-ジを極力抑えながら薄片試料を作成する装置を購入した結果、これまでよりも良質の薄片試料の作成が容易になり、より多くの物質に対してコヒーレントCBED法が適用できる用になった。

(CBED) (Sr_2Ta_2O_7,Sr_2Nb_2O_7,FeS_2,Mo_8O_<23>,6H-SiC) positive feedback (6HmurSiCMagneAlN) to check the performance of the company, and the following results show good results. 1. The results show that the location of the CBED in the shape of the mirror is called the display. On one side, the reflection plane is closed, and the attention is paid to the reflection wave, the position, the position, the position, The results show that the surface is in good agreement with each other, and the results show that the results show that there is a significant difference between the two groups. In the shape of the CBED, the position of the crystal, the phase, the shape, the position, the temperature, the temperature and the temperature. The world's smallest "0.27nm" lattice faces are known to be "successful" in the shape of "CBED". Please review the research results and the 16th Joint Conference on Crystallography (IUCrXVI) held in Beijing in the summer of 1993. two。 In the CBED method, it is necessary to actively monitor the performance of the industry, and to improve the performance of the industry. The results of the CBED method are much higher than those in the field. There are significant differences in the crystal cycle (phase separation) of the crystal cycle. The CBED method is used to determine the strength of the bending strength, the phase, the new point, the lattice deficiency, the line, the line, the grid, the grid. This time, in scientific research, the material is used to reduce the strength of the material, and the device is made into the results of the device. The results show that the material is easy to use, and the CBED method is used to determine the accuracy of the device.

项目成果

M.Terauchi et al.: "Convergent-Beam Electron Diffraction Study of Incommensurately Modulated Crystals. II.(3+1)-Dimensional Space Groups." Acta Cryst.A. (in press). (1994)

M.Terauchi 等人：“不通约调制晶体的会聚束电子衍射研究。II.(3 1)-维空间群。”

R.Kuzuo et al.: "Electron Energy-Loss Spectra of Crystalline C_<84>" Phys.Rev.B. 49. 5054-5057 (1994)

R.Kuzuo 等人：“晶体 C_<84> 的电子能量损失谱”Phys.Rev.B。

Z.L.Weber et al.: "Applicacation of convergent-beam illumination methods to the study of lattice distortion acrros the interface" Journal of Crystal Growth. 132. 103-114 (1993)

Z.L.Weber 等人：“应用会聚光束照明方法来研究界面上的晶格畸变”《晶体生长杂志》。

M.Terauchi et al.: "Observation of Lattice Fringes in Convergent-Beam Electron Diffraction Patterns" Ultramicroscopy. (in press). (1994)

M.Terauchi 等人：“会聚束电子衍射图案中晶格条纹的观察”超显微术。

M.Terauchi et al.: "Convergent-Beam Electron Diffraction Study of Incommensurately Modulated Crystals. I.(3+1)-Dimensional Point Groups." Acta Cryst.A. 49. 722-729 (1993)

M.Terauchi 等人：“不通约调制晶体的会聚束电子衍射研究。I.(3 1)-维点群。”