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半導体/溶液界面における光誘起電子移動ダイナミクスの過渡回折格子分光

半导体/溶液界面光致电子转移动力学的瞬态光栅光谱

基本信息

批准号：
05740360
负责人：
朝日剛
金额：
$ 0.51万
依托单位：
Osaka University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1993
资助国家：
日本
起止时间：
1993 至无数据
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-05740360/
关键词：
過渡回折格子分光光誘起電子移動有機薄膜

项目摘要

本年度は、過渡回折格子分光法の応用と有効性を示す目的で、既に手がけてきた有機薄膜中の光誘起電子移動過程について研究を行った。光伝導性を示す高分子としてよく知られているポリ(N-ビニルカルバゾール)にテトラシアノベンゼンルバゾール環の励起状態からTCNBへの電荷分離過程を直接観測した。回折光強度の時間変更だけでなく、その波長依存性も同時に観測することによって、カルバゾールの励起一重項状態の減衰とそれに対応したTCNBアニオンの生成過程を回折光スペクトル(回折効率の波長依存性)の時間変化として観測した。その結果、薄膜での光導起電荷分離過程が約10ピコ秒で起きることが分かった。これは、膜厚がサブマイクロメートルのポリ(N-ビニルカルバゾール)薄膜中の電荷分離は200ps程度の速い減衰と数nsまで減衰しない成分からなることが分かった。従来、薄膜などの光化学ダイナミクスの時間分解計測には高感度な蛍光法が用いられてきたが、蛍光法では発光種の情報のみが分かるだけであった。本研究の結果は、非発光種の動的挙動も含めた高時間分解分解能かつ高感度の時間分解計測法として、白色光パルスをプローブ光に用いた過渡回折格子分光法が極めて有効であることを示したものである。これまでの測定システムでは透過回折光の検出を行うものであった。今後は、上記の成果をふまえた上で、反射回折光の検出可能なシステムへと発展させ、半導体/溶液界面や半導体/有機薄膜界面への時間分解計測が可能な過渡回折格子分光システムの開発を行う。

This year, the study of photoinduced electron movement in organic thin films was carried out for the purpose of demonstrating the effectiveness of the transition refraction lattice spectroscopy. The charge separation process of polymer with photoconductivity can be directly measured. Time variation of refraction intensity and wavelength dependence of refraction index are measured simultaneously. Time variation of refraction index and wavelength dependence of refraction index are measured simultaneously. As a result, the charge separation process of the thin film is about 10 seconds. The charge separation in the thin film is reduced by 200ps, and the attenuation is reduced by ns. The time decomposition measurement of photochemistry of thin films and films is based on the high sensitivity of photochemistry and photochemistry. The results of this study include: high time resolution energy, high sensitivity time resolution measurement method, white light, transition reflection lattice spectroscopy method, etc. This is the first time I've ever seen a person who's been in a relationship with someone else. In the future, the results mentioned above will be discussed in detail. The possible development of reflection refraction system, the time decomposition measurement of semiconductor/solution interface and semiconductor/organic film interface, and the possible development of reflection lattice spectroscopy system will be discussed.