Detailed structure-analysis by using electron probe

使用电子探针进行详细结构分析

• 批准号: 06302022
• 负责人: TANAKA Nobuo
• 金额: $ 7.23万
• 依托单位: NAGOYA UNIVERSITY
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
• 财政年份: 1994
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1994 至 1996
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-06302022/
• 关键词: Electron probe; Convergent Beam Electron Diffraction; High Resolution Electron Microscopy; Nano-Materials; Interfaces; Analytical Electron Microscopy; ナノメーター構造解析; 先端材料; イメージングプレート; ナノプローブ電子線; 精密構造解析; 原子クラスター; 表面・界面; CCDカメラ

The purposes of the project are (1) structure-analysis in reciprocal space by using nmsized electron probe and (2) advanced high resolution electron microcopy of nano material excluding the spatial averaging process. In 1994-1997, each of the investigators studied the following topics which are fitted with the their previous works and on the line of the above targets of the present project.Coherent convergent beam electron diffraction, Electron holography, Nm-sized electron diffraction, High-resolution electron microscopy of quasi-crystals, Estimation of new types of recording media such as imaging plates, Surface structure analysis of silicon, Structure analysis of fine metal semiconductor particle, Nm-sized electron beam diffraction from amorphous alloys, Physics of atom clusters, Studies of plane-defects in silicon and its relationship of the optical properties, and Convergent beam electron diffraction from oxides.

该项目的目的是：(1)利用纳米尺寸的电子探针在互反空间进行结构分析；(2)先进的高分辨率纳米材料的电子显微复制，不包括空间平均过程。在1994-1997年，每位研究者都研究了以下主题，这些主题与他们以前的工作相吻合，并与本项目的上述目标一致。相干会聚束电子衍射、电子全息、纳米级电子衍射、准晶体高分辨率电子显微镜、新型记录介质（如成像板）的估计、硅的表面结构分析、精细金属半导体粒子的结构分析、非晶合金纳米级电子束衍射、原子团簇物理、硅的平面缺陷及其与光学性质的关系研究、和来自氧化物的会聚束电子衍射。

项目成果

N.Tanaka et al.: "HREM of Gd @C_<82> metal fullerenes on MgO Surfaces" Thin Solid Films. 281. 613-617 (1996)

N.Tanaka 等人：“MgO 表面上的 Gd @C_<82> 金属富勒烯的 HREM”固体薄膜。

A.Tonomura et al.: "Observation of dynamic flux-line relaxation in BiSrCaCuO" Physical revies B. 53. 9400 (1996)

A.Tonomura 等人：“BiSrCaCuO 中动态通量线弛豫的观察”物理评论 B. 53. 9400 (1996)

K.Hiraga et al.: "HRTEM of Al-Pd-Mn quasicrystal" philosophical Magazine. 73. 951-971 (1996)

K.Hiraga 等人：“Al-Pd-Mn 准晶的 HRTEM”哲学杂志。

D.Sindo: "Sensitivity at fading chavactersitics of imaging plate" J. Electron Microscopy. 45. 232-235 (1996)

D.Sindo：“成像板褪色 Chavactersitics 的灵敏度”J. 电子显微镜。

T.Suzuki et al.: "Strnctrue of high index clean Si surfoce studed by REM" phys stat sol. 146a. 243-249 (1994)

T.Suzuki 等人：“REM 研究的高折射率清洁硅表面的结构”物理统计溶胶。