Räumliche Charakterisierung der Quell- und Fokaleigenschaften kohärenter fs-EUV Strahlung in Hinblick auf die Optimierung der Quelle auf maximale Brillanz

对相干 fs-EUV 辐射的光源和焦点特性进行空间表征，以优化光源以获得最大亮度

• 批准号: 5263876
• 负责人: Professor Dr. Ulf Kleineberg
• 金额: --
• 依托单位: Lehrstuhl für Experimentalphysik - Laserphysik
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Priority Programmes
• 财政年份: 2000
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1999-12-31 至 2004-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5263876?language=en
• 关键词: umliche; Charakterisierung; der; Quell; und

Die Nutzung von höherer Harmonischen Strahlung aus fs-lasergetriebenen Quellen mit dem Ziel der Erzeugung ultrahoher Spitzenintensitäten setzt sowohl die Charakterisierung der räumlichen Abstrahlcharakteristik der Quelle im EUV als auch die Fokussierung der Quelle zur Erzielung einer maximalen Leistungsdichte voraus.Für die Erreichung dieser Projektziele bieten EUV Multilayer als Interferenzspiegel für weiche Röntgenstrahlung im Wellenlängenbereich um 13 nm hervorragende Voraussetzungen zur spektralen Selektion und Fokussierung der EUV-Strahlung.Diese Eigenschaften sollen genutzt werden, um in multilayerbasierten optischen Aufbauten die Strahlung einer einzelnen Harmonischen spektral zu selektieren und ihre Ausbreitungscharakteristik im Fernfeld zu detektieren. Hierbei kommt ein Photoemissionsmikroskop mit transmittierender Photokathode als neuartiges Instrument zur räumlich Detektion von EUV Strahlung zum Einsatz. Die dabei erzielten Ergebnisse sollen der Optimierung der Brillanz der Lichtquelle zugute kommen.

Die Nutzung von höherer Harmonischen Strahlung aus fs-lasergetriebenen Quellen mit dem Ziel der Erzeugung ultrahoher Spitzenintensitäten setzt sowohl die Charakterisierung der räumlichen Abstrahlcharakteristik der Quelle im EUV als auch die Fokussierung der Quelle zur Erzielung einer maximalen Leistungsdichte voraus.Für die Erreichung dieser Projektziele bieten EUV Multilayer als Interferenzspiegel für weiche Röntgenstrahlung im Wellenlängenbereich um 13 nm hervorragende Voraussetzungen zur spektralen Selektion und Fokussierung der EUV-Strahlung.Diese Eigenschaften sollen genutzt werden，um in multilayerbasierten optischen Aufbauten die Strahlung einer einzelnen Harmonischen spektral zu selektieren und ihre Ausbreitungscharakteristik im Fernfeld zu detektieren.您的位置：凡人谷知道>教育/科学>麻省理工学院光电发射器>ALS中性仪器检测>EUV>。他说：“这是最好的解决办法。”