Streuprozesse in elektrisch gepumpten Quantenpunktverstärkern

电泵浦量子点放大器中的散射过程

基本信息

项目摘要

Für Anwendungen von Halbleiterquantenpunkten direkt in Bauelementen der optischen Kommunikationstechnik, wie z.B. in Quantenpunktlasern und -verstärkern, sind die Zeitskalen von Streuprozessen von Ladungsträgern untereinander und von Ladungsträgern mit Phononen leistungsbestimmende Parameter. Ziel des vorliegenden Projektes ist es, die Dynamik und deren Ursachen an elektrisch gepumpten Quantenpunktverstärkern unter realen Betriebsbedingungen zu untersuchen, um ein besseres Verständnis zum Ablauf von Streuprozessen unter Bedingungen des 3-dim. Quantumconfinements in Bauelementen zu erhalten. Die vorgesehenen Experimente sollen die Zeitskalen bestimmen auf denen Streuprozesse unter verschiedenen äusseren Bedingungen wie Stromdichte, Temperatur, bzw. elektrischer oder optischer Injektion, oder für verschiedene Strukturparameter wie Barrierenhöhe und -dicke, ablaufen. Als Halbleitermaterialien sollen selbstorganisiert gewachsene Quantenpunkte untersucht werden, die als single-mode Wellenleiterstrukturen vorliegen. Als experimentelle Technik wird ein neuartiges fs-Zweistrahlexperiment mit Heterodyndetektion eingesetzt, welches die direkte Messung der Absorptions- und Brechungsindexdynamik in kollinearer Anordnung von Pump- und Probestrahl erlaubt.
光通信技术中半导体量子点的直接测量,如z.B.在Quantenpunktlasern und -verstärkern中,有一个Zeitskalen von Streuprozessen von Ladungsträgern untereinander und von Ladungsträgern mit Phononen leistungsbestimmende Parameter。Ziel des vorliegenden Projektes is es,die Dynamik und deren Ursachen an elektrisch gepumpten Quantenpunktverstärkern unter realen Betriebsbedingungen zu untersuchen,um ein besseres Verständnis zum Abrauf von Streuprozessen unter Bedingungen des 3-dim. Quantumconfinements in Bauelementen zu erhalten.该vorgesehenen实验sollen die Zeitskalen bestimmen auf denen Streuprozesse unter versedenen äusseren Bedingungen wie Stromplete,Temperatur,bzw. elektrischer oder optischer Injektion,oder für versedene Strukturparameter wie Barrierenhöhe und -迪凯,ablaufen.由于半导体材料本身具有良好的组织结构,因此韦尔登是唯一的单模健康结构。实验技术将是一种具有外差测量功能的中性双折射实验,它直接测量泵和探头的线性响应中的吸收和破裂指数动态。

项目成果

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