共役系高分子薄膜電極のフェムト秒ナノメートル光機能

共轭聚合物薄膜电极的飞秒纳米光学功能

• 批准号: 11118232
• 负责人: 坂口 浩司
• 金额: $ 1.09万
• 依托单位: Shizuoka University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)
• 财政年份: 1999
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1999 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-11118232/
• 关键词: 光電導性AFM; 有機薄膜; レーザー

本年度は、開発したCWレーザー光励起による電流を検出する光電導性原子間力顕微鏡の空間分解能を上げるため、システムの改良を行った。また有機薄膜のナノメートル光電子物性を検討した。はじめに改良したシステムの性能をチェックするため、オクタンチオールを結合させた金蒸着マイカ(300℃でアニーリングしながら蒸着)の表面像と電導象(同時測定)を測定した。得られた電導像は、表面像とほぼ対応した。電流-電圧特性は、線形関係を示し、0.5GΩの抵抗を示した。これは、アルカンチオールのSTMの測定から得られた値とほぼ一致する。このことから電導性AFMで得られたイメージは、オクタンチオールを介して流れるトンネル電流のマッピングをあらわしているものと考えられる。次に銅フタロシアニン(CuPc)のITOガラスヘの真空蒸着膜(厚さ100nm〜10nm)を試料として用い、光電導性AFMによる光電導性イメージングを行った。表面像は、数十nm程度のサイズを持つ微結晶から成っている。これに対し、電導像や光電導像はフラットな像を示した。電導像は、キャリア密度と移動度のマヅピングを示しており、光電導像は、ショットキーバリアの分布を反映しているものと考えられる。

This year, the development of optical excitation, current detection, photoconductivity, atomic force and space resolution of micromirrors has been improved. The photoelectron properties of organic thin films are discussed. The surface image conductivity (simultaneous measurement) of the improved system performance was determined by combining the surface image conductivity (simultaneous measurement) with the surface image conductivity (simultaneous measurement) of the gold vapor (300℃). The electrical conductivity of the film is higher than that of the surface film. The current-voltage characteristic is shown in linear relation, and the resistance is shown in 0.5GΩ. The measurement of STM is consistent with the measurement of STM. The conductivity of the AFM is determined by the dielectric constant. The next step is to prepare a vacuum evaporated film (thickness: 100nm ~ 10nm) for copper (CuPc) ITO coating. Surface image, tens of nm degree of The electrical conductivity and photoconductivity of the image are reflected in the image. Electrical conductivity, density, mobility, and photoconductivity are reflected in the distribution of electrical conductivity.

项目成果

H. Sakaguchi: "Nanometer-Scale Photoelectric Property of Organic Thin Films Investigated by Photoconductive AFM"Jpn. J. Appl. Phys.. 38(6B). 3908-3911 (1999)

H. Sakaguchi：“通过光电导 AFM 研究有机薄膜的纳米级光电特性”Jpn。