エナメル質再石灰化病巣の断層別X線回折法およびフーリエ変換赤外分光法による分析

通过截面 X 射线衍射和傅里叶变换红外光谱分析牙釉质再矿化病变

• 批准号: 13771279
• 负责人: 森谷 俊樹
• 金额: $ 1.22万
• 依托单位: Iwate Medical University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2001
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2001 至 2002
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-13771279/
• 关键词: エナメル質人工初期齲蝕; 脱灰; 再石灰化; フーリエ変換赤外分光法; 炭酸含有ハイドロキシアパタイト; エナメル質初期齲触

本研究では,エナメル質人工初期齲蝕病巣のアパタイトの結晶性を深度別に評価するために,牛歯エナメル質を脱灰および再石灰化させることにより人工初期齲蝕病巣を作成し,これを断層別にフーリエ変換赤外分光法(FT-IR分光法)にてイオン基の状態分析を行った.方法として,牛歯エナメル質よりエナメルブロックを作製し,健全群,脱灰群,フッ素イオン不含有(F-)再石灰化群,1ppmフッ素イオン含有(F+)再石灰化群の4群にわけて処理した.なお,新鮮なエナメル質を研磨紙にて露出させ,この面を処理面とした.健全群は処理せず,脱灰群は0.1M乳酸ゲルにて3週間脱灰処理し,再石灰化群は0.1M乳酸ゲルにて3週間脱灰後,8日間それぞれの再石灰化液にて処理した.脱灰あるいは脱灰・再石灰化終了後,各試料のエナメル質最表層の状態をFT-IR装置Spectrum Oneにより分析した.さらに試料の厚さを高精度形状測定変位計で確認しながら表層を研磨し,断層別(深さ10,20,50,100,150,200μm)に新鮮エナメル質面を露出させて,これらをFT-IR装置により分析した.測定方法は拡散反射法とした.その結果,再石灰化両群では,人工初期齲蝕病巣部の表層ほど,再石灰化によって炭酸基が除去されていることを確認した.炭酸基の除去はHApの結晶性の向上に繋がることから,再石灰化によって病巣部表層は深層よりもエナメル質の結晶性が向上していると思われる.特に,F(+)再石灰化群の病巣部最表層では炭酸基が認められなかった.このことは病巣部最表層におけるエナメル質の結晶性の向上が著しいためと考えられる.しかし,フッ素イオンによる炭酸基の変化を病巣部表層下まで分析すると,炭酸基の除去は深さ10数μmまでであった.つまり,再石灰化にフッ素イオンが加わることによって,病巣部表層10数μmまでのエナメル質の結晶性が著明に向上すると考えられる.なお,現在,X線回析法にて,病巣部の状態を断層別に分析している途中である.

In this study, we evaluated the depth of crystallization of artificial initial caries and analyzed the state of the matrix by FT-IR spectroscopy. Methods: The four groups were treated by the method: healthy group, deashed group, pristine group without (F-) relime group,1ppm pristine group with (F+) relime group. Fresh, polished paper exposed, surface treated. The healthy group was treated with 0.1M lactic acid for 3 weeks, and the lime group was treated with 0.1M lactic acid for 3 weeks, and the lime group was treated with lime solution for 8 days. After the lime removal and lime re-treatment, the surface state of each sample was analyzed by FT-IR Spectrum One. The thickness of the sample was determined by a high-precision shape analyzer. The surface layer was ground, the fault (depth: 10, 20, 50, 150, 200 μm) was exposed, and the FT-IR device was used for analysis. Method of determination: Scattered reflection method. As a result, the recalibration group was confirmed to have removed the carbon group from the surface layer of the artificial initial caries. The removal of carbon acid groups and the crystallization of HAp are carried out in an upward direction, and then the calcification is carried out in a deep layer of the surface layer of the diseased part. Especially,F(+) recalcification group is the most superficial layer of the disease. The most superficial layer of the disease is the crystallization of the disease. In addition, the carbon acid group was removed at a depth of 10 μm. The surface layer of the diseased part is 10 μm, and the crystallinity of the diseased part is bright and upward. Now, X-ray analysis method, the state of the disease, fault analysis, on the way.

项目成果

森谷俊樹: "ウシエナメル質再石灰化病巣のフーリエ変換赤外分光法(FT-IR法)による分析-第2法-"口腔衛生学会雑誌. 52. 636-637 (2002)

Toshiki Moritani：“通过傅里叶变换红外光谱（FT-IR 方法）分析牛牙釉质再矿化病变 - 方法 2 -”口腔卫生学会杂志 52. 636-637 (2002)。