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新規ずり応力・吸収スペクトル同時測定法による液晶薄膜の研究

使用剪切应力和吸收光谱同时测量的新方法研究液晶薄膜

基本信息

批准号：
13874086
负责人：
栗原和枝
金额：
$ 1.6万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Exploratory Research
财政年份：
2001
资助国家：
日本
起止时间：
2001 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

本研究は、新規ずり応力・吸収スペクトル同時測定法により2つの表面に挟まれた液晶薄膜の表面による配向構造化の厚み依存性をナノメートルの分解能で研究する新規手法を提出することを目的とした。液晶の配向制御は、ディスプレイ等の液晶の利用や、固体基板上と液晶分子の相互作用理解からも極めて重要な問題であり、様々な表面修飾が試みられている。我々は、最近、2つの表面間に挟んだ液晶の厚みを0.1nmの精度で制御しながら共振ずり応力測定を行い、表面から深さ(厚み)方向への液晶の配向性を評価する新しい手法を開発した。本研究は、この共振法に加え、液晶薄膜の配向性を色素ホストの吸光度変化から同時モニターする測定システムを導入したもので、液晶薄膜の研究に従来にない新規手法を提出することをめざして研究を行った。(1)液晶のナノずり応力・吸収同時測定の確立-等色次数干渉縞の透過光強度高感度測定の確立と、吸光度の算出・解析法の確立-申請者らが自作したナノずり応力測定装置(既存設備)に付属する分光器に高感度マルチチャンネル光検出器を組み合わせ、ずり応力システムに加え干渉縞のスペクトルを得るシステムを製作した。ずり応力測定装置では、表面間の間隔を等色次数干渉法により測定している。表面としては裏に銀を蒸着した可視光に透明な雲母を用い白色光を照射、多重反射させながら分光器に入射し、得られる干渉縞の波長から表面間隔を得るものである。観測波長領域に吸収を持つ色素が2表面間に存在すれば、干渉縞の明るさが変調される。今回製作したのは、この干渉縞スペクトルの透過光量変化より吸収スペクトルを高感度で得る装置である。干渉縞における透過光強度より色素試料の吸光度を求める一般的な解析法を提出し、偶・奇の縞の挙動等について、理論と実験により解析法を提示した。(2)液晶薄膜のナノずり応力・吸収変化同時測定液晶としては典型的な6-シアノ-4-ヘキシルビフェニル(6CB)ならびにP-メトキシベンジリデンP-n-ブチルアニリン(MBBA)を用い、色素(ゲスト)を加えたホスト-ゲスト液晶のナノずり応力測定を行った。

In this study, new rules of force absorption and simultaneous determination of the surface layer of liquid crystal thin films have been carried out. The structure of the liquid crystal film has been studied. Liquid crystal alignment and control devices, liquid crystal devices such as liquid crystal devices, liquid crystal molecules on solid substrates interact with each other to understand the importance of important problems and surface modification. Recently, we measure the thickness of the liquid crystal on the surface, the thickness of the liquid crystal, the accuracy of the 0.1nm, the measurement of the resonant force of the liquid crystal, and the alignment of the liquid crystal in the deep (thick) direction of the surface. In this study, the resonance method, the liquid crystal film alignment, the chromophores, the absorbance, the liquid crystal film, the liquid crystal film, the (1) simultaneous determination of liquid crystal mechanical force absorption device-isochromatic number of dry light intensity test, analytical method determination, absorbance calculation, self-made mechanical force measurement device (existing equipment), high sensitivity optical spectrometer, high sensitivity optical spectrometer. I don't know how to do it. I don't know. I don't know. The mechanical strength measuring device and the color separation between the surface and the surface are used to determine the temperature by the dry test method. The surface is steamed with light, but the transparent mother is illuminated with white light, the multi-reflection spectrometer is incident, and the wave length is separated from the surface. In the field of wavelength, there is a difference between the absorption and absorption of pigment on the surface of pigment 2. This time, the system is designed to increase the sensitivity of the device through the amount of light. Through the light intensity to determine the absorbance of the pigment material, the general analytical method is proposed, and the analytical method is used to analyze the properties of the pigment material. (2) the liquid crystal film is characterized by the simultaneous determination of the typical liquid crystal film (6CB), the typical liquid crystal (6CB), the liquid crystal (LCD), the liquid crystal (LCD).