気液界面局所構造観察のための光反射光散乱同時測定装置の開発

开发用于观察气液界面局部结构的光反射和光散射同时测量装置

• 批准号: 14750040
• 负责人: 坂本 直人
• 金额: $ 2.11万
• 依托单位: The University of Tokyo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2002
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2002 至 2003
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-14750040/
• 关键词: 反射率; 光散乱; ラングミュア膜; 同時測定; 不均一構造; 2相共存

液体表面の局所的な性質に関する知見を得るために、反射率測定法と動的光散乱法を効果的に組み合わせた装置の開発を目指している。ブリュースター角近傍角度走査リフレクトメトリと透過散乱光利用型表面動的光散乱法を並置し両者のプローブビームを膜上にて一致させた装置を組み立てた。2つの手法のビームスポットを界面にて一致させるためには、レンズ・ミラーなどの位置・角度調整が重要であるので、そのための調整手順を検討した。典型的なL膜のひとつであるステアリン酸L膜をサーキュレータで温度制御することにより、希薄相と凝集相の共存に起因するとされる不均一構造を出現させる。膜上で光が照射された部分(直径100μm〜2mm)の反射率あるいは表面波伝播特性を知ることができるため、例えば、ひとつの膜の、ある部分と別の部分とで性質が異なっていることを証明することができる。反射率には膜の厚さが、表面波伝播特性には膜の弾性が、それぞれ強く影響する。希薄な部分をレーザ光が照射しているとき、反射率測定結果からは膜厚が小さく評価されるはずであり、表面波伝播特性測定結果からは弾性が小さく評価されるはずである。凝集している部分は逆に膜厚も弾性も大きいはずである。このような対応関係が常に成立していることついて、組み立てた装置を、反射率の高低に応じて光散乱データ収集のON/OFFを切り替える仕様の反射率参照型動的光散乱測定装置として用いることにより、確認することができた。

The properties of liquid surfaces are known by reflectance measurement, and the results of optical scattering are indicated by the development of devices. The light scattering method of the transmission scattered light utilization type is combined with the light scattering method of the transmission scattered light utilization type and the light scattering method of the transmission scattered light utilization type and the light scattering method of the transmission scattered light utilization type. 2. The adjustment of the position and angle of the interface is important. Typical L-films are characterized by heterogeneous structure due to temperature control, thin phase and condensed phase. Reflectivity of the irradiated part (diameter 100μm ~ 2mm) of the film surface wave propagation characteristics are known, such as the film surface wave propagation characteristics, the film surface Reflectivity is affected by film thickness, surface wave propagation characteristics, film properties, and film strength. The results of measurement of reflectance and surface wave propagation characteristics vary from film thickness to film thickness. The aggregation of the membrane thickness of the membrane is very important. The relationship between the two is always established, and the reflectivity of the device is changed. The reflectivity of the device is changed from ON to OFF.

项目成果

N.Sakamoto, K.Sakai, K.Takagi: "Ripplon light scattering technique combined with scanning angle reflectometry for the observation of inhomogeneity at liquid surface"Jpn. J. Appl. Phys. Part 1. Vol.41,No.10. 6240-6242 (2002)

N.Sakamoto、K.Sakai、K.Takagi：“Ripplon 光散射技术与扫描角反射法相结合用于观察液体表面的不均匀性”Jpn。