酸化物強誘電体の電子密度分布

氧化物铁电体的电子密度分布

• 批准号: 03F00707
• 负责人: 石澤 伸夫
• 金额: $ 0.77万
• 依托单位: Nagoya Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for JSPS Fellows
• 财政年份: 2003
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2003 至 2004
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-03F00707/
• 关键词: 電子密度分布; 強誘電体; 機能性無機化合物; KTP; 放射光X線回折; 結晶学

KTiOP04(KTP)を代表とするKTP型強誘電体の単結晶の電子密度分布を放射光を利用した単結晶X線回折法によって求め、強誘電性の起源を化学結合の変化の観点から考える。具体的には今までに合成を進めてきたCsTiOAs04、およびCsを他のアルカリ金属で置換した単結晶を溶液法で合成し、つくばのフォトンファクトリーのビームライン14Aに設置された水平型高速四軸回折計を用いて回折データを種種の温度で測定し、電子密度分布解析を行う。得られた結果から化学結合の温度変化を調べ、密度汎関数法によって計算される結果との比較を行い、物性との関連を考察する。現在、実験室系光源を用いた2次元検出器回折計を用いてKTP関連結晶の評価を行っている。また、新しい結晶化学的考察法からKTP系新規強誘電体材料の開発と設計を行い、その結果に基いて新規結晶の合成を開始した。研究は順調で、平成16年度には放射光を利用した精密構造解析実験が行われる予定である。今までの成果を平成16年6月に開催されるアジア結晶学連合会議(AsCA04)で発表をする予定である。

KTiOP04 (KTP) represents the electron density distribution and emission of single crystal of KTP type strong dielectric. Using the X-ray refractory method of crystallization, we can find out the origin and chemical bonding of strong electroelectricity. Specifically, the には金までにsynthetic を进めてきたCsTiOAs04, およびCsをのアルカリmetal replacementした単crystallizationをsolution methodでsynthesisし、つくばのフォトンファクトリーのビームライン14A set of horizontal high-speed four-axis return folding The calculation method is used for various temperature measurement and electron density distribution analysis. The results of chemical bonding, temperature change and adjustment are obtained, the density-generated correlation method is calculated, the results are compared, and the physical properties are correlated and investigated. Now, the light source is used in the 2-dimensional detector and the KTP-related crystallization is used. The investigation method of new and new crystallization chemistry is based on the design and development of new KTP-based strong dielectric materials. Research on the smoothness of the system and the use of radioactive light in 2006 have been determined using precision structural analysis. The result of this project was announced in June 2016, and the Joint Conference on Crystallography (AsCA04) will be held in June 2016.