课题基金 / 基金详情

塑性・クリープ分離法による環境調和型電子実装基板の最適構造設計シミュレーション

塑性・クリープ分離法による環境調和型電子実装基板の最適構造設計シミュレーション
采用塑性/蠕变分离法的环保电子封装板优化结构设计模拟
批准号:
15760051
负责人:
大口 健一
金额:
$2.3万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2003
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2003 至 2004

项目摘要

项目成果

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鉛フリーはんだのクリープ成分記述の検討昨年度提案した応力-弾塑性ひずみ曲線の導出法を用いて,鉛フリーはんだ材の応力-ひずみ曲線に含まれるクリープひずみ成分を抽出し,これを正確に記述するクリープ構成則について検討した.このクリープ構成則は,クリープひずみを遷移および定常クリープひずみの和で表す型とした.定常クリープ則には,より広い応力範囲に適用できるGarofalo則を用いた.遷移クリープ則には,遷移クリープひずみ速度が定常クリープひずみ速度に比例し,遷移クリープひずみの発達により0に収束する構成則を提案した.さらに,ここで提案したクリープ構成則の材料定数を3種類のひずみ速度による引張試験と,その後のひずみ保持により実行できる応力緩和試験から決定する方法も提案した.これにより,長時間におよぶクリープ試験を実行することなく,鉛フリーはんだのクリープ特性を評価することが可能となった.微小領域での鉛フリーはんだの変形特性に対する塑性・クリープ分離法の適用性の検証電子パッケージのはんだ接続部は微小サイズであるため,鉛フリーはんだの微小領域での変形に対する塑性・クリープ分離法の適用性を検証した.すなわち,Sn-3.0Ag-0.5Cuを用いて,マイクロビッカース試験機を用いた圧子押込試験で微小領域でのクリープ特性を評価し,これをバルク試験片の応力-ひずみ曲線に塑性・クリープ分離法を適用して得たクリープ特性と比較した.また,同負荷条件での引張試験後にSn-3.0Ag-0.5Cu材とSn-37Pb材の試験片表面の微視的観察を行い,観察結果と塑性・クリープ分離法で評価した各材料の変形特性との関係も調べた.これらの結果,塑性・クリープ分離法から得られる情報は,微小領域でのクリープ特性や結晶粒内でのすべり変形・粒界すべりなどの微視的な変形形態の予測に適用できる可能性があることが判明した.
期刊论文(5)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI: 10.1299/jsmea.47.371
发表时间: 2004-07
期刊: Jsme International Journal Series A-solid Mechanics and Material Engineering
影响因子: --
作者: [K. Ohguchi;K. Sasaki;M. Ishibashi;Takamichi Hoshino]
通讯作者: K. Ohguchi;K. Sasaki;M. Ishibashi;Takamichi Hoshino
Ken-ichi OHGUCHI, Katsuhiko SASAKI: "Elastic-Plastic-Creep Simulation of Pb/Sn Solder Alloys by Separation of Plastic and Creep"JSME International Journal Ser.A.. Vol.46 No.4. 559-566 (2003)
Ken-ichi OHGUCHI、Katsuhiko SASAKI:“通过分离塑性和蠕变来模拟 Pb/Sn 焊料合金的弹塑性蠕变”JSME 国际期刊 Ser.A.. Vol.46 No.4。
DOI: --
发表时间:
期刊:
影响因子: --
作者: []
通讯作者:
Ken-ichi OHGUCHI, Katsuhiko SASAKI: "Plasticity-Creep Separate Method for Viscoplastic Deformation of Lead-free Solders"Proceedings of International Conference on Advanced Technology in Experimental Mechanics 2003. (CD-ROM(OS10W0188)). (2003)
Ken-ichi OHGUCHI、Katsuhiko SASAKI:“无铅焊料粘塑性变形的塑性-蠕变分离方法”2003 年实验力学先进技术国际会议论文集。(CD-ROM(OS10W0188))。
DOI: --
发表时间:
期刊:
影响因子: --
作者: []
通讯作者:
DOI: --
发表时间: 2004
期刊: 電子情報通信学会技術研究報告 Vol.104 No.74
影响因子: --
作者: [OHGUCHI, K., SASAKI, K., ISHIBASHI, M., HOSHINO, H., 大口 健一]
通讯作者: 大口 健一
低消費エネルギ型銅-スズTLP接合部の経時変化構成モデリングによる高信頼化
  • 批准号:
    24K07211
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 资助金额:
    $3.0万
  • 财政年份:
    2024
  • 负责人:
    大口 健一
  • 依托单位:
環境調和型電子デバイス実装基板のサブマイクロメカニクスに関する研究
  • 批准号:
    13750069
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
  • 资助金额:
    $1.22万
  • 财政年份:
    2001
  • 负责人:
    大口 健一
  • 依托单位:
鉛フリーはんだによる環境調和型電子パッケージの最適構造設計に関する研究
  • 批准号:
    11750069
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额:
    $1.41万
  • 财政年份:
    1999
  • 负责人:
    大口 健一
  • 依托单位: