希土類ホウ化物における四極子相互作用と幾何学的フラストレーションの競合
希土類ホウ化物における四極子相互作用と幾何学的フラストレーションの競合
批准号:
06J08356
负责人:
道村 真司
金额:
$1.79万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2006
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2006 至 2008
中文摘要
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英文摘要
平成18年度より,希土類四ホウ化物RB_4系の結晶構造から予想される磁気フラストレーションの影響に着目し,複数のRB_4(R=Gd,Tb,Tm,Er)に対して磁化,磁気抵抗,比熱などの物性測定を進めてきた.特にTmB_4はT_<N1>=11.7K以下で反強磁性秩序を示し,T^*=10.7K,T_<N2>=10.0Kで逐次相転移を示す.また,T_<N2>以下の磁化過程にはc軸方向,c面内に1/2M_sプラトーが存在するだけでなく,1/8M_s,1/3M_s,2/3M_s,3/4M_sの多くの分数プラトーが存在する.磁気的フラストレーションをもつ物質では,一般に磁化プラトーの多数出現する例が多くある.本年度は,TmB_4の単結晶磁場中中性子回折実験から,その分数磁化プラトーの出現機構を探り,プラトー出現に対する磁気的フラストレーションの寄与を調べた.回折実験より,零磁場下では,T<T_<N2>の秩序相(IV相)の磁気構造の波数ベクトルはk_4=[1,0,0]であり,T_<N2><T<T^*(III相)とT^*<T<T_<N1>(II相)の中間相ではそれぞれk_3=[0.8774,0,0]とk_2=[0.8774,0.031,0]であった.指数0.8774(〓1/8)は,磁気構造が結晶構造の約八倍の長周期であることを示す.また,磁場中において,c軸方向の分数磁化プラトーの現れる磁場領域では長周期磁気構造の形成を示す磁気反射が現れた.その周期は,結晶構造の8倍,もしくはその近傍の反位相長周期であり,零磁場下のII・III相で観測された周期とほぼ等しい.そのため,磁化プラトーの出現とII・III相の長周期磁気構造の形成原因は同じものと考えられる.前述のように,II・III相では,粉末中性子回折実験から長周期磁気反射ピークと共に磁気散漫散乱も観測している.磁気散漫散乱は磁気フラストレーションに起因すると考えられる為,TmB_4の長周期磁気構造の形成及び分数磁化プラトーの出現には磁気フラストレーションの寄与が考えられる.
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DOI:
10.1016/j.jmmm.2006.10.476
发表时间:
2007-03-01
期刊:
JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS
影响因子:
2.7
作者:
[Iga, F., Shigekawa, A., Kindo, K.]
通讯作者:
Kindo, K.
Field-induced lattice distortion in single crystal ErB_4 observed by X-ray diffraction
X射线衍射观察单晶ErB_4场致晶格畸变
DOI:
--
发表时间:
2007
期刊:
J. Magn. Magn. Mater. 310
影响因子:
--
作者:
[S. Michimura, 他]
通讯作者:
他
Shastry-Sutherland格子系RB_4(R=Gd-Tm)の磁気フラストレーション効果
Shastry-Sutherland晶格系统RB_4的磁挫败效应(R=Gd-Tm)
DOI:
--
发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
--
作者:
[松見紀佳, 川口佳大, 広田陽祐, 青井啓悟, J. Yamaguchi, 吉澤正人, 桑原慶太郎, 武田健一, 木村俊哉, 五十嵐亮介, F.Iga, F.Iga, 古林宏之, 小林慶亮, 松村武, 国森敬介, 近藤晃弘, 伊賀文俊, 山口淳一, 福田賢二, 道村真司]
通讯作者:
道村真司
Magnetization process in GdB4
GdB4 磁化过程
DOI:
10.1143/jpsj.76.024711
发表时间:
2007
期刊:
Journal of the Physical Society of Japan
影响因子:
1.7
作者:
[A. Kikkawa, K. Katsumata, Y. Narumi, K. Suga, Tomoya Fukui, T. Sugaya, K. Kindo, F. Iga, S. Michimura]
通讯作者:
S. Michimura
DOI:
10.1103/physrevlett.101.087202
发表时间:
2008-08
期刊:
Physical review letters
影响因子:
8.6
作者:
[S. Yoshii;T. Yamamoto;M. Hagiwara;S. Michimura;A. Shigekawa;F. Iga;T. Takabatake;K. Kindo]
通讯作者:
S. Yoshii;T. Yamamoto;M. Hagiwara;S. Michimura;A. Shigekawa;F. Iga;T. Takabatake;K. Kindo
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