新しい高温化学反応場を用いた高品質窒化アルミニウム結晶の作製-極性と成長機構

利用新型高温化学反应场——极性和生长机理制备高品质氮化铝晶体

基本信息

  • 批准号:
    20676007
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 56.49万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Young Scientists (S)
  • 财政年份:
    2008
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2008 至 2012
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

次世代の紫外発光素子の発光効率を飛躍的に改善する基板材料として単結晶窒化アルミニウム(AlN)が注目されている.本研究では,昨年度から継続して,サファイア窒化法によって得られるAlN薄膜をテンプレートにして,(1)AlN厚膜結晶の作製を以下の3つの結晶成長法:(1)Ga-Alフラックスを用いた液相成長法,(2)反応性スパッタ法,(3)パルス励起堆積(PLD)法によって行った.1573KにおいてGa-Alフラックスを用いた液相成長法により5hで膜厚1μmを超えるAlN膜を得ることに成功した.Ga-40mol%Alのフラックス中で成長させたAlN膜では,X線ロッキングカーブの半値幅は(0002)面について51arcsec,(10-12)面について640arcsecとなり,窒化基板の品質を受け継いだ配向性の高さを確認した.反応性スパッタ法によりN_2-Ar混合ガス中でAlターゲットを用いて窒化サファイア基板上にAlN膜を作製した.基板温度823K,窒素流量比50vol%N_2,スパッタ電力700,800Wでは,c軸配向したAlN膜が得られた.窒化サファイア基板上へPLD法を用いてAlN結晶成長を試みた結果,1173Kにおいて約300nm成長し,基板の結晶性を引き継いだ高品質なAlN薄膜であることが分かった.また,(2)アルミナを原料に用いた炭素熱還元析出法による無歪のバルクAlN単結晶の作製を行った.さらに,(3)高分解能透過型電子顕微鏡(HRTEM)による界面観察や転位密度の評価,収束電子回折法(CBED)によるAlN結晶の極性判定を行った.
The improvement of the next generation ultraviolet photon photon and photoperiod substrate materials, crystal asphyxiation and crystallization (AlN), focus on the improvement of the substrate material. In this study, we studied the growth of AlN thin film by asphyxiation method. (1) the crystal structure of AlN thick film was used as the following crystal growth method: (1) the liquid phase growth method was used for Ga-Al growth, and (2) the liquid phase growth method was used. (3) the PLD method was used to improve the performance of the Ga-Al film. At 1573K, the liquid phase growth method was used to determine the thickness of the AlN film. The thickness of the film is 1 μ m and the thickness of the AlN film is 1 μ m. The growth of the AlN film is very successful. In the process of Ga-40mol%Al growth, the growth of the AlN film, X-ray diffraction, half-width (0002), (10-12), (10-12) and (10-12). The asphyxiated substrate is sensitive to the high degree of alignment. In the process of N _ 2-Ar mixing, the Al film was used to suffocate the AlN film on the substrate. The substrate temperature is 823K, the asphyxiant flow ratio is 50vol%N_2, the thermal power is 700800W

项目成果

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专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Characteristics of AIN Films Grown on Thermally-Nitrided Saphire Substrates
热氮化蓝宝石衬底上生长的 AIN 薄膜的特性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    2.3
  • 作者:
    Hosokawa N;Sugiura Y;Setou M;K.Ueno
  • 通讯作者:
    K.Ueno
サファイア窒化法により作製したAIN薄膜の結晶性に及ぼす温度および窒素分圧の影響
温度和氮分压对蓝宝石氮化法制备AlN薄膜结晶度的影响
  • DOI:
  • 发表时间:
    2009
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Tsuyoshi Sekitani;Ute Zschieschang;Hagen Klauk;Takao Someya;熊田智行
  • 通讯作者:
    熊田智行
Thermodynamics and Reaction Kinetics of Sapphire Nitridati on Method (Keynote lecture)
蓝宝石氮化方法的热力学和反应动力学(主题演讲)
  • DOI:
  • 发表时间:
    2008
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    小野秀明;今井英明;早坂孝宏;宮脇哲;堀川弘吏;越智崇;伊藤明博;瀬藤光利;齊藤延人;H. Fukuyama
  • 通讯作者:
    H. Fukuyama
サファイア窒化の反応動力学と空孔形成機構
蓝宝石氮化反应动力学及成孔机理
  • DOI:
  • 发表时间:
    2008
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    関谷毅;染谷隆夫;福山博之
  • 通讯作者:
    福山博之
高配向窒化アルミニウム結晶膜およびその製造方法
高取向氮化铝晶体薄膜及其制造方法
  • DOI:
  • 发表时间:
    2009
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
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