Tieftemperatur-Magnetkraftmikroskopie an magnetischen Perovskitschichten

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In diesem Projekt soll der Zusammenhang zwischen strukturellen und magnetischen Eigenschaften magnetischer Perovskitschichten der Form La1-xDxMnO3, welche im Zusammenhang mit kolossalen Magnetowiderstandseffekten derzeit intensiv studiert werden, mittels kombinierter Rasterkraft- und Magnetkraftmikroskopie bei verschiedenen Temperaturen und variablen Magnetfeldern auf der Nanometerskala untersucht werden. Der Vergleich zwischen Rasterkraft- und Magnetkraftmikroskopiedaten soll insbesondere die Rolle von Korngrößen und Korngrenzen in dünnen Filmen, welche epitaktisch auf SrTiO3 oder LaAlO3-Substraten aufgewachsen werden, im Hinblick auf die magnetischen Eigenschaften klären. Dies ist sowohl von grundlegendem Interesse als auch bezüglich Anwendungen in magneto-resistiven Bauelementen von hoher Bedeutung.