Rastersonden-Mikroskopie und -Spektroskopie an Metallclustern zur Erforschung von Einzelelektronen- und Quantengrößen-Effekten

金属簇的扫描探针显微镜和光谱学研究单电子和量子尺寸效应

• 批准号: 5164274
• 负责人: Professor Dr. Roland Wiesendanger
• 金额: --
• 依托单位: Institut für Nanostruktur- und Festkörperphysik (INF)
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Priority Programmes
• 财政年份: 1999
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1998-12-31 至 2001-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5164274?language=en
• 关键词: Rastersonden; Mikroskopie; und; Spektroskopie; Metallclustern

Im vorliegenden Forschungsvorhaben sollen Einzelelektronen-Effekte und Quantengrößen-Effekte an einzelnen Metallclustern auf Oberflächen, an eindimensionalen Clusteranordnungen, sowie an Clustern eingebettet in einer Polymermatrix mittels Methoden der Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie untersucht werden. Dabei soll sowohl Rastertunnel- als auch Rasterkapazitätsspektroskopie zum Einsatz kommen, wobei ein Temperaturbereich von 7 - 300 K abgedeckt wird. Kapazitätsspektroskopische Messungen eröffnen nicht nur einen direkten Zugang zur Untersuchung von Einzelektronen-Phänomenen und Quantengrößen-Effekten, sondern bieten auch gleichzeitig eine hohe laterale Auflösung, welche für die gleichzeitige Charakterisierung der ausgewählten Cluster selbst sowie deren Umgebung wichtig ist. Ergänzt werden sollen die Untersuchungen durch elektrostatische Rasterkraftmikroskopiemessungen, welche besonders sensitiv auf eventuell vorhandene Oberflächen- bzw. Grenzflächenladungen sind. Parallel zu den experimentellen Arbeiten sollen Simulationsrechnungen durchgeführt werden, welche eine quantitative Auswertung der Ergebnisse ermöglichen.

在前研究中，需要解决的是Einzelelektronen-Effekte和Quantengrößen-Effekte，一个在Oberflächen上的Einzelnen Metallclustern，一个一维的无规则的，因此在一个聚合物矩阵中使用光栅传感器和光谱仪韦尔登的方法。Dabei soll sowohl Rastertunnel- als auch Rasterkapazitätspektroskopie zum Einquirkommen，wobei ein Temperaturbereich von 7 - 300 K abgedeckt wird. Kapazitätspektroskopische Messungen eröffnen nicht努尔einen direkten Zugang zur Untersuchung von Einzelektronen-Phänomenen und Quantengrößen-Effekten，sondern bieten auch gleichzeitig eine hohe lateraleAuflösung，welche für die gleichzeitige Charakterisierung der ausgewählten Cluster selbst sowie deren Umgebung wichtig ist.因此韦尔登可以通过静电光栅显微镜测量来测量，但必须对可能发生的上表面情况敏感。Grenzflächenladungen sind.平行于韦尔登的实验性人工模拟，也可以对结果进行定量分析。