Untersuchung der Adsorption und des Wachstums von Edelgasschichten mittels Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie

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Im Rahmen des geplanten Forschungsvorhabens sollen fundamentale Experimente zu Adsorption und Wachstum von Edelgasschichten mittels Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie durchgeführt werden. Dabei soll erstmals ein neuer Meßmodus eingesetzt werden, welcher ortsaufgelöst und dreidimensional die Messung des Spitzen-Proben-Wechselwirkungspotentials erlaubt. Mit diesem Meßmodus werden adsorbierte Xenonschichten vom Submonolagenbereich bis hin zu dicken Schichten sowohl auf leitenden als auch auf nichtleitenden Substraten untersucht und ihre Struktur aufgeklärt. Durch Korrelation der Strukturdaten mit den Ergebnissen der Potentialmessungen werden neue Einblicke in Adsorption und Wachstum von Edelgasen speziell an Stufen und in der Umgebung von Defekten erwartet. Abschließende Untersuchungen widmen sich dem Adsorptionsverhalten einzelner Xenonatome bis hin zu deren gezielter Manipulation.