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Untersuchung thermischer Nahfelder mit einem Raster-Wärmemikroskop

Untersuchung thermischer Nahfelder mit einem Raster-Wärmemikroskop
使用扫描热显微镜检查热近场
批准号:
53838486
负责人:
Professor Dr. Achim Kittel
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2008
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2007-12-31 至 2012-12-31

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Effekte thermischer Nahfeldstrahlung auf der Nanometerskala erlangen gegenwärtig erhebliche Bedeutung für die Untersuchung von Oberflächenprozessen. Hier eröffnet die Nutzung des durch evaneszente Moden vermittelten Nahfeld-Wärmetransfer s für die Raster-Wärmemikroskopie weitreichende neue Möglichkeiten. Auf der Grundlage eines in Oldenburg zuvor entwickelten Prototyps eines UHV-Raster-Wärmemikroskops werden in diesem Vorhaben, das gemeinsam von einer experimentellen und einer theoretischen Arbeitsgruppe durchgeführt, wird, die physikalischen Mechanismen des Nahfeld-Wärmeübertrags untersucht. Die ersten Ziele dieses Projektes bestehen einerseits in der Herstellung und genauen Charakterisierung miniaturisierter Thermosensoren, mit denen die Abstands-, Temperatur und Materialabhängigkeit des Nahfeld-Wärmeübertrags zwischen Sensor und ebenen Proben präzise vermessen werden soll, andererseits in der Entwicklung eines theoretischen Modells, mit dessen Hilfe diese Messdaten quantitativ erklärt werden können. Weiterhin sollen auch die thermischen Nahfeld-Signaturen mikrostrukturierter Proben analysiert werden.
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